ASE-7410 Kuvaan perustuvat mittaukset, 5 op
Measurements Based on Digital Image

Lisätiedot

Soveltuu jatko-opinnoiksi.

Vastuuhenkilö

Heimo Ihalainen, Risto Ritala

Opetus

Toteutuskerta Periodi Vastuuhenkilö Suoritusvaatimukset
ASE-7410 2016-01 1 - 3 Heimo Ihalainen
Jukka-Pekka Raunio
Hyväksytysti suoritetut harjoitukset ja harjoitustyö. Numeerisen arvosanan saamiseksi lisäksi tentti.

Osaamistavoitteet

Kurssin suoritettuaan opiskelija osaa kuvaan perustuvan mittauksen perusteet; järjestelmäkomponentit, laskennallisten menetelmien ytimen sekä järjestelmän suunnittelun perusteet. Osaa (3/5) 1.tunnistaa kameraan perustuvan mittausjärjestelmän peruskäsitteet, komponentit ja rakenteet 2.kuvankäsittelyn ja kuva-analyysin perusteet 3.soveltaa numeerisin analyysin menetelmiä kuville 4. suunnitella yksinkertaisen kuvaan perustuvan mittausjärjestelmän Arvosana (1/5): vähintään kolme oppimistavoitetta täyttyy

Sisältö

Sisältö Ydinsisältö Täydentävä tietämys Erityistietämys
1. Kameraan perustuvan mittauksen perusteet  Systeemianalyysi, kamera lineaarisena järjestelmänä, järjestelmäkohina  Ympäristötekijöiden vaikutus kuvan laatuun 
2. Kuvankäsittelyn perusteet  2-D lineaarinen ja epälineaarinen suodatus  2-D Fourier muunnos 
3. Kuva-analyysin perusteet, segmentointi, reunan- ja kulman haku, orientaatio ja mittakaava  Tekstuurianalyysin perustietämys  2-D spektrianalyysi 
4. Kuvaan perustuvan mittausjärjestelmän suunnittelu  Resoluutio-, pinta-ala-, valaisu- ja kalibrointivaatimukset  Järjestelmän luotettavuusvaatimukset 



Vastaavuudet

Opintojakso Vastaa opintojaksoa  Selite 
ASE-7410 Kuvaan perustuvat mittaukset, 5 op MIT-3210 Kuvaan perustuva mittaus 1, 5 op  
ASE-7410 Kuvaan perustuvat mittaukset, 5 op ASE-7410 Kuvaan perustuvat mittaukset, 5 op  

Päivittäjä: Jokinen Heikki, 11.04.2016