ASE-7410 Kuvaan perustuvat mittaukset, 5 op
Measurements Based on Digital Image
Lisätiedot
Soveltuu jatko-opinnoiksi.
Vastuuhenkilö
Heimo Ihalainen, Risto Ritala, Jukka-Pekka Raunio
Opetus
| Toteutuskerta | Periodi | Vastuuhenkilö | Suoritusvaatimukset |
| ASE-7410 2017-01 | 1 - 3 |
Heimo Ihalainen Jukka-Pekka Raunio |
Hyväksytysti suoritetut harjoitukset ja harjoitustyö. Numeerisen arvosanan saamiseksi lisäksi tentti. |
Osaamistavoitteet
Kurssin suoritettuaan opiskelija osaa kuvaan perustuvan mittauksen perusteet; järjestelmäkomponentit, laskennallisten menetelmien ytimen sekä järjestelmän suunnittelun perusteet. Osaa (3/5) 1.tunnistaa kameraan perustuvan mittausjärjestelmän peruskäsitteet, komponentit ja rakenteet 2.kuvankäsittelyn ja kuva-analyysin perusteet 3.soveltaa numeerisin analyysin menetelmiä kuville 4. suunnitella yksinkertaisen kuvaan perustuvan mittausjärjestelmän Arvosana (1/5): vähintään kolme oppimistavoitetta täyttyy
Sisältö
| Sisältö | Ydinsisältö | Täydentävä tietämys | Erityistietämys |
| 1. | Kameraan perustuvan mittauksen perusteet | Systeemianalyysi, kamera lineaarisena järjestelmänä, järjestelmäkohina | Ympäristötekijöiden vaikutus kuvan laatuun |
| 2. | Kuvankäsittelyn perusteet | 2-D lineaarinen ja epälineaarinen suodatus | 2-D Fourier muunnos |
| 3. | Kuva-analyysin perusteet, segmentointi, reunan- ja kulman haku, orientaatio ja mittakaava | Tekstuurianalyysin perustietämys | 2-D spektrianalyysi |
| 4. | Kuvaan perustuvan mittausjärjestelmän suunnittelu | Resoluutio-, pinta-ala-, valaisu- ja kalibrointivaatimukset | Järjestelmän luotettavuusvaatimukset |
Vastaavuudet
| Opintojakso | Vastaa opintojaksoa | Selite |
| ASE-7410 Kuvaan perustuvat mittaukset, 5 op | MIT-3210 Kuvaan perustuva mittaus 1, 5 op | |
| ASE-7410 Kuvaan perustuvat mittaukset, 5 op | ASE-7410 Kuvaan perustuvat mittaukset, 5 op |