Opinto-opas 2004-2005

8404143 TESTATTAVUUSSUUNNITTELU, DESIGN FOR TESTABILITY, 2 ov

Tietoa luennoitsijoista
Professori OLLI VAINIO

Luentoja ja harjoituksia
Luentoja yhteensä 28 h. Harjoituksia yhteensä 28 h.

Luentoajat ja -paikat
Keskiviikko 10 - 12, TB220

Viikottainen opetus/periodi	S1	S2	K1	K2	Kesä
Luennot (h):	-	-	2+	2	-
Harjoitukset (h):	-	-	2+	2	-

Tavoitteet
Opitaan menetelmiä digitaalisten piirien ja piille integroitujen järjestelmien testaamiseen ja testattavuuden parantamiseen, mitkä ovat keskeisiä asioita hyvään digitaalisuunnittelun laatuun pyrittäessä.

Sisältö
Vikamallit, testien generointi, scan-tekniikat, muistien ja prosessoriytimien testattavuus.

Tutkintovaatimukset
Tentti.

Kirjallisuus
P. K. Lala, Fault Tolerant & Fault Testable Hardware Design. Prentice-Hall, 1985 (osittain). A. L. Crouch, Design for Test for Digital IC's and Embedded Core Systems. Prentice Hall, 1999.

Esitiedot

Numero	Nimi	OV	P/S
8404115	Digitaalisuunnittelu	3	Pakollinen

Huomautuksia
Luennoidaan vain joka toinen vuosi. Luennoidaan keväällä 2005. Sopii myös jatko-opintoihin.

Kurssin kotisivu