2803020
LÄPIVALAISUELEKTRONIMIKROSKOPIA,
TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY, 3 ov
Tietoa luennoitsijoista
Professori TOIVO LEPISTÖ
Luentoja ja harjoituksia
Luentoja yhteensä 21h. Harjoituksia yhteensä 14h.
Luentoajat ja -paikat
Maanantai 12 - 15, K3441 (M)
Viikottainen opetus/periodi |
|
|
|
|
|
Luennot (h): |
- |
- |
3 |
- |
- |
Harjoitukset (h): |
- |
- |
- |
2 |
- |
Tavoitteet
Hallita läpivalaisuelektronimikroskopian (TEM) ja siihen liittyvien menetelmien (STEM ja AEM) perusteet ja luoda valmius niiden soveltamiseen käytännön työskentelyssä.
Sisältö
Läpivalaisuelektronimikroskoopin ja siihen liittyvien laitteiden rakenne, toiminta, kontrastinmuodostus, elektronidiffraktio, alkuaineanalyysi (EDS) sekä elektronien energianmenetykseen perustuva karakterisointi (EELS). Esimerkkejä käytännön sovelluskohteista. Näytteenvalmistusmenetelmät. Muut elektronioptiset laitteet.
Tutkintovaatimukset
Hyväksytysti suoritettu kirjallinen tentti luentojen ja harjoitusten sisällöstä, hyväksytysti suoritetut seminaari- ja laboratorioharjoitukset.
Kirjallisuus
P. Kettunen: Elektronimikroskopia I, Laitteisto ja kontrastinmuodostus, Otakustantamo 1983, P. Kettunen ja T.K. Lepistö: Elektronimikroskopia II, Otakustantamo 1983 (soveltuvin osin). D.B. Williams and C.B. Carter: Transmission Electron Microscopy, A textbook for materials science, Plenum Press, New York, 1996 (osat I, II, III ja IV).
Esitiedot
Numero |
Nimi |
|
|
2803010 |
3 |
Pakollinen |
Huomautuksia
Luennoidaan joka toinen vuosi. Luennoidaan lukuvuonna 2004-05. Opintojakso pyritään luennoimaan FUT-ohjelmassa, jolloin opetuskielenä on englanti (2803021).