7503040
KUVAAN PERUSTUVA MITTAUS 1,
MEASUREMENT BASED ON DIGITAL IMAGE 1, 3 ov
Tietoa luennoitsijoista
DI KAJ SÖDERHOLM
Luentoja ja harjoituksia
Luentoja 14 h. Laboratorio- ja tietokoneharjoituksia 14 h.
Luentoajat ja -paikat
Tiistai 14 - 16, SH108
Viikottainen opetus/periodi |
|
|
|
|
|
Luennot (h): |
- |
2 |
- |
- |
- |
Harjoitukset (h): |
- |
2 |
- |
- |
- |
Tavoitteet
Opintojakso antaa perustan kuvaan perustuvien mittausmenetelmien ymmärtämiseen, digitaaliseen kuvankäsittelyyn ja kuvainformaation tilastolliseen analyysiin. Kurssilla saa myös otteen laskennallisista menetelmistä ja kuvaan perustuvan mittauksen suorittamisesta.
Sisältö
Kurssin luennoilla käsitellään eri kuvantamismenetelmien ominaisuuksia, digitaalisten kuvien esitystapoja ja pakkausta, kuvan esikäsittelymenetelmiä, konenäköön kehitettyjä menetelmiä (esim. reunanilmaisu, segmentointi), 2d-spektrianalyysiä sekä tekstuurianalyysiä. Tietokoneharjoituksissa harjoitellaan numeeristen menetelmien soveltamista kuvien käsittelyssä ja analyysissä sekä erilaisissa mittaustehtävissä.
Tutkintovaatimukset
Hyväksytysti suoritettu kirjallinen tai tietokonetentti.
Kirjallisuus
Esim. Gonzales, Rafael C. & Woods, Richard E. Digital Image Processing Second Edition, Prentice Hall 2002.
Huomautuksia
Opintojaksoa täydentää: 7503050 Kuvaan perustuva mittaus 2. Soveltuu jatko-opintoihin. Suositeltava vuosikurssi IV.