7504050
TEOLLISUUSPROSESSIEN MITTAUSJÄRJESTELMÄT,
MEASUREMENT SYSTEMS FOR INDUSTRIAL PROCESSES, 3 ov
Tietoa luennoitsijoista
Emeritusprofessori OLLI AUMALA
Luentoja ja harjoituksia
Luentoja ja seminaareja 32 h. *8.11. luentoja 4 h ja K1-periodin aikana 28 h seminaareja.
Luentoajat ja -paikat
Maanantai 13 - 17, SH108
Viikottainen opetus/periodi |
|
|
|
|
|
Luennot (h): |
- |
4*+ |
4 |
- |
- |
Harjoitukset (h): |
- |
- |
- |
- |
- |
Tavoitteet
Yleiskäsitys prosessiteollisuuden käyttämistä erikoismittauksista ja mittausjärjestelmistä. Harjaantuminen tieteellisen raportin laatimisessa sekä suullisessa ja kirjallisessa esittämisessä.
Sisältö
Mittausmenetelmien ja –järjestelmien soveltaminen teollisuusautomaatiossa, erityisesti puunjalostusteollisuudessa ja energiatuotannossa sekä näiden toimintaympäristössä. Soveltuvuus, asennuskysymykset, järjestelmätoteutukset. Laatumittaukset.
Tutkintovaatimukset
Hyväksytysti suoritettu seminaari ja tentti.
Kirjallisuus
Aumala, O. Teollisuusprosessien mittaukset. 4. uudistettu painos. Pressus Oy, 1998. D-työohje. Seminaariesitelmät; lähteenä tieteelliset julkaisut, laitevalmistajien kaupalliset tiedotteet, Internet.
Huomautuksia
Luennolla 8.11. jaetaan seminaariesitysten aiheet sekä keskustellaan esityksille asetettavista sisällöllisistä ja esitysteknisistä tavoitteista. Periodin K1 seminaareissa käydään läpi esitykset sekä mahdollisesti kuullaan vierailevia luennoitsijoita. Osallistujien määrä rajoitetaan 30:een. Suositeltava vuosikurssi IV.