Opintojakson vastuuhenkilö
Prof. Olli Vainio

Opettajat
Prof. Olli Vainio

Toteutuskerrat
Toteutus 1

	Periodi 1	Periodi 2	Periodi 3	Periodi 4	Periodi 5	Kesä	Opetuskieli
Luento	-	-	-	2 h/vko+	2 h/vko	-	Suomeksi, pyydettäessä englanniksi
Tentti							Suomeksi, pyydettäessä englanniksi

(Lukuvuoden 2005-2006 aikataulu)

Tavoitteet
Opitaan menetelmiä digitaalisten piirien ja piille integroitujen järjestelmien testaamiseen ja testattavuuden parantamiseen.

Sisältö

Sisältöalue	Ydinaines	Täydentävä tietämys	Erityistietämys
1.	Digitaalipiirien vikamallit.	Muistien vikamallit.	Piirin I/O-nastojen yhteiskäyttö.
2.	Digitaalipiirin vikojen havaitseminen testaamalla.	Boolen algebran hyödyntäminen testisuunnittelussa.	Kellotukseen liittyvät erityisjärjestelyt.
3.	Scan-arkkitehtuuri ja -menetelmät.	Core-prosessorien erilaiset piirteet.	MBIST integrointiin liittyvät asiat.
4.	Sisäänrakennettu itsetestaus. Muistien ja prosessoriytimien testaus.	ATPG-periaatteet.	ATPG-suunnittelusäännöt.
5.	Ammattialueen keskeinen termistö.	Test wrapper.	Wrapperin asettamat vaatimukset testattavuussuunnittelulle.

Suoritusvaatimukset
Tentti

Opintojakson arviointikriteerit

Oppimateriaali

Tyyppi	Nimi	Tekijä	ISBN	URL,painos,saatavuus...	Tenttimateriaali	Kieli
Kirja	Fault Tolerant & Fault Testable Hardware Design	P. K. Lala	0-13-308248-2	ISBN 0-13-308248-2	Ei ole	Englanti
Kirja	Design for Test for Digital IC	A. L. Crouch	0-13-084827-1	ISBN 0-13-084827-1	Kyllä	Englanti

Esitiedot

Tunnus	Nimi	OP	P/S
TKT-1200	Digitaalisuunnittelu I	4	Pakollinen

Huomautuksia
Luennoidaan vain joka toinen vuosi

Opintojaksokorvaavuus
8404143 Testattavuussuunnittelu

Opintojakson kotisivu

Viimeksi muokattu	29.08.2005
Muokkaaja	Olli Vainio