TTKK Opinto-opas
8404143 Testattavuussuunnittelu, 2,0 ov
Design for Testability, 2,0 cu
Professori OLLI VAINIO
Luentoja 28 h. Harjoituksia 28 h.
| Viikottainen Opetus / Periodi |
S1 | S2 | K1 | K2 | Kesä |
|---|
| Luennot (h) | - | - |
2+ | 2 | - |
|---|
| Harjoitukset (h) | - | - |
2+ | 2 | - |
|---|
Luentoaika ja -paikka
Ei luennoida lukuvuonna 2001-2002.
Tavoitteet
Tutustutaan digitaalisten piirien ja piille integroitujen järjestelmien testaamiseen ja
testattavuuden parantamiseen, mitkä ovat keskeisiä asioita hyvään digitaalisuunnittelun laatuun pyrittäessä.
Sisältö
Digitaalipiirien mallinnus, logiikkasimulointi, vikamallinnus. Testien generointi, scan-tekniikat,
muistien ja prosessoriytimien testattavuus.
Tutkintovaatimukset
Tentti.
Kirjallisuus
M. Abramovici, M. A. Breuer and A. D. Friedman, Digital Systems Testing and Testable Design. IEEE Press, 1990/1995
(osittain). A. L. Crouch, Design for Test for Digital IC's and Embedded Core Systems. Prentice Hall, 1999.
Vaadittavat esitiedot
8404115 Digitaalisuunnittelu (vanha nro 80115).
Huomautuksia
Korvaa opintojakson 80143. Luennoidaan vain joka toinen vuosi. Ei luennoida lukuvuonna 2001-2002. Sopii myös jatko-opintoihin.
Linkkejä
Lisätietoja