TTKK Opinto-opas
2803000 Materiaalitieteen fysikaaliset tutkimusmenetelmät, 3 ov
Physical Research Methods in Materials Science, 3 cu
Professori TOIVO LEPISTÖ
Luentoja 42 h. Seminaari- ja laboratorioharjoituksia 21 h.
| Viikottainen Opetus / Periodi |
S1 | S2 | K1 | K2 | Kesä |
|---|
| Luennot (h) | 3 | 3 |
- | - | - |
|---|
| Harjoitukset (h) | 1 | 1 |
- | - | - |
|---|
Luentoaika ja -paikka
Pe 9-12 K3104
Tavoitteet
Kurssissa tarkastellaan yleisimpiä materiaalien karakterisointiin
käytettäviä fysikaalisia tutkimusmenetelmiä. Tavoitteena on kattavan
yleiskuvan ja -tietämyksen luominen kaikista niistä materiaalitieteen
fysikaalisista tutkimusmenetelmistä, joilla on laaja-alaista käyttöä sekä
perustutkimuksessa että erilaisissa teollisissa sovelluskohteissa.
Sisältö
Mikroskopia (optinen, elektronimikroskopia, atomivoimamikroskopia, muut
tekniikat), röntgentekniikat (diffraktio, fluoresenssi, muut tekniikat),
termiset analyysimenetelmät, materiaalin koostumusmääritykset, pintaherkät
karakterisointimenetelmät ja ainettarikkomattomat tarkastusmenetelmät.
Tutkintovaatimukset
Hyväksytysti suoritettu kirjallinen tentti. Hyväksytysti suoritetut
harjoitukset.
Kirjallisuus
Luentomonisteet. S. Bradbury: An Introduction to the Optical Microscope,
Royal Microscopical Society, Oxford Sci. Publ., 1991, Cullity: Elements of
X-ray Diffraction, Addison-Wesley, USA, 1978, M. Grassebauer & H.W. Werner:
Analysis of Microelectronic Materials and Devices, John Wiley & Sons Ltd,
1996, D.P. Woodruff & T.A. Delchair: Modern Techniques of Surface Science
- Second Edition, Cambridge University Press, 1994 ja J.B. Wachtman:
Characterization of Materials, Butterworth-Heinemann Manning Publications
Co., 1993.
Suositeltavat esitiedot
Perusopintoihin kuuluvat pakolliset kurssit.
Huomautuksia
Kurssia suositellaan opiskelijoille, jotka haluavat saada yleiskuvan
yleisimmistä materiaalien karakterisointiin käytettävistä fysikaalisista
tutkimusmenetelmistä.