TTKK Opinto-opas

2803010 Elektronimikroskopia, 3 ov

Electron Microscopy, 3 cu

Professori TOIVO LEPISTÖ

Luentoja 28 h. Seminaari- ja laboratorioharjoituksia 14 h.

Viikottainen Opetus / Periodi S1 S2 K1 K2 Kesä

Luennot (h) 2 2 - - -

Harjoitukset (h) 1 1 - - -

Viikottainen Opetus / Periodi	S1	S2	K1	K2	Kesä
Luennot (h)	2	2	-	-	-
Harjoitukset (h)	1	1	-	-	-

Luentoaika ja -paikka

Ke 14-16 K3104

Tavoitteet

Hallita pyyhkäisyelektronimikroskopian (SEM) ja mikroanalysoinnin (EDS ja WDS) perusteet ja luoda valmius niiden soveltamiseen käytännön työskentelyssä.

Sisältö

Pyyhkäisyelektronimikroskoopin rakenne, toiminta, kuvan- ja kontrastinmuodostus, erityistoiminnot sekä esimerkkejä sovelluskohteista. Näytteenvalmistus. EDS- ja WDS-mikroanalysoinnin perusteet, korjauslaskenta, ATK-ohjelmistot, kuvankäsittely ja sovellusesimerkkejä.

Tutkintovaatimukset

Hyväksytysti suoritettu kirjallinen tentti luentojen ja harjoitusten sisällöstä, hyväksytysti suoritetut seminaari- ja laboratorioharjoitukset.

Kirjallisuus

Luentomonisteet. Pentti Kettunen: Elektronimikroskopia I, Laitteisto ja kontrastinmuodostus, Otakustantamo 1983. Pentti Kettunen ja Toivo Lepistö: Elektronimikroskopia II, Otakustantamo 1983. (soveltuvin osin). J.I. Goldstein ym.: Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis, Plenum

Press, New York 1981. L. Reimer: Scanning Electron Microscopy, Springer-Verlag, SLT 1985.

Huomautuksia

Opintojakso pyritään luennoimaan FUT-ohjelmassa, jolloin opetuskielenä on englanti (2803011).