TTKK logoTTKK Opinto-opas

7503040 Kuvaan perustuva mittaus 1, 3 ov

Measurement Based on Digital Image 1, 3 cu


Laboratorioinsinööri HEIMO IHALAINEN, DI KALLE MARJANEN, DI KAJ SÖDERHOLM
Luentoja 14 h. Laboratorio- ja tietokoneharjoituksia 28 h.

Viikottainen Opetus / Periodi S1S2K1K2Kesä
Luennot (h)-2 ---
Harjoitukset (h)-4 ---

Luentoaika ja -paikka

Luennot ti klo 15-17 sali SH108.

Tavoitteet

Digitaalikuvaa tuotetaan enenevässä määrin. Kuvan tuottaminen (videokuvaus, "still"-kuvaus, valo- ja röntgenkuvien digitointi ym.) ja siirtäminen tietoverkoissa on hyvin käytännöllistä. Kuva toimii dokumenttina datasta, ja sitä voidaan katsella sekä analysoida joko reaaliaikaisesti tai myöhemmin. Kuvia voidaan käyttää hyödyksi monenlaisissa mittaustehtävissä kuvan muotojen, värin, valoisuuden tai tekstuurin toimiessa mittausinformaation kantajana. Opintojakso antaa teoreettisen perustan sekä otteen laskennallisista menetelmistä kuvaan perustuvan mittauksen suorittamiseen. Opintojaksoa täydentää 7503050 Kuvaan perustuva mittaus 2.

Sisältö

Opintojakson luennoilla käsitellään kuvantamismenetelmien ominaisuuksia, 2d-signaalianalyysiä ja konenäköön kehitettyjä menetelmiä. Laboratorioharjoituksissa tutustutaan mittaustarkoituksiin käytettävien kuvien tuottamiseen. Tietokoneharjoituksissa harjoitellaan numeeristen menetelmien soveltamista kuvien käsittelyssä ja analyysissä sekä erilaisissa mittaustehtävissä.

Tutkintovaatimukset

Hyväksytysti suoritetut harjoitukset ja tentti.

Kirjallisuus

Sonka, Hlavac, Boyle, Image Processing, Analysis, and Machine Vision, (second edition). PWS Publishing, 1998. Lim, Two-Dimensional Signal and Image Processing. Prentice Hall, 1990.

Huomautuksia

Soveltuu jatko-opintoihin. Suositeltava vuosikurssi IV.

Linkkejä

Opintojakson toteutus lukuvuonna 01-02