TTKK Opinto-opas
7503050 Kuvaan perustuva mittaus 2, 3 ov
Measurement Based on Digital Image 2, 3 cu
Laboratorioinsinööri HEIMO IHALAINEN, DI KALLE MARJANEN, DI KAJ SÖDERHOLM
Luentoja 14 h. Laboratorio- ja tietokoneharjoituksia 28 h.
Viikottainen Opetus / Periodi |
S1 | S2 | K1 | K2 | Kesä |
Luennot (h) | - | - |
2 | - | - |
Harjoitukset (h) | - | - |
4 | - | - |
Luentoaika ja -paikka
Luennot ti 15-17 sali SH108.
Tavoitteet
Kuvaan perustuva mittaaminen yleistyy eri sovellusaloilla. Kuva toimii
dokumenttina datasta, ja sitä voidaan katsella sekä analysoida joko
reaaliaikaisesti tai myöhemmin. Kuvia voidaan käyttää hyödyksi
monenlaisissa mittaustehtävissä kuvan muotojen, värin valoisuuden tai
tekstuurin toimiessa mittausinformaation kantajana.
Opintojakso antaa teoreettisia valmiuksia ja laskennallisia menetelmiä sekä
käytännön valmiuksia kuvaan perustuvan mittauksen suorittamiseen.
Sisältö
Opintojakson luennoilla käsitellään 2d-signaalianalyysiä, konenäön
erityismenetelmiä sekä kuvaan sisältyvän mittausinformaation tulkintaa.
Laboratorioharjoituksissa tutustutaan mittaustarkoituksiin käytettävien
kuvien tuottamiseen. Tietokoneharjoituksissa harjoitellaan numeeristen
menetelmien soveltamista kuvien käsittelyssä ja analyysissä sekä
erilaisissa mittaustehtävissä. Harjoitustyössä viedään läpi käytännössä
kuvaan perustuva mittaustehtävä.
Tutkintovaatimukset
Hyväksytysti suoritetut harjoitukset ja tentti.
Kirjallisuus
Sonka, Hlavac, Boyle, Image Processing, Analysis, and Machine Vision,
(second edition). PWS Publishing, 1998.
Lim, Two-Dimensional signal and Image Processing. Prentice Hall, 1990.
Suositeltavat esitiedot
7503040 Kuvaan perustuva mittaus 1. Opintojaksoa täydentävät myös muut
TTKK:n kuvankäsittelyyn liittyvät opintojaksot.
Huomautuksia
Soveltuu jatko-opintoihin. Suositeltava vuosikurssi IV.
Linkkejä
Opintojakson toteutus lukuvuonna 01-02