TTKK logoTTKK Opinto-opas

7503050 Kuvaan perustuva mittaus 2, 3 ov

Measurement Based on Digital Image 2, 3 cu


Laboratorioinsinööri HEIMO IHALAINEN, DI KALLE MARJANEN, DI KAJ SÖDERHOLM
Luentoja 14 h. Laboratorio- ja tietokoneharjoituksia 28 h.

Viikottainen Opetus / Periodi S1S2K1K2Kesä
Luennot (h)-- 2--
Harjoitukset (h)-- 4--

Luentoaika ja -paikka

Luennot ti 15-17 sali SH108.

Tavoitteet

Kuvaan perustuva mittaaminen yleistyy eri sovellusaloilla. Kuva toimii dokumenttina datasta, ja sitä voidaan katsella sekä analysoida joko reaaliaikaisesti tai myöhemmin. Kuvia voidaan käyttää hyödyksi monenlaisissa mittaustehtävissä kuvan muotojen, värin valoisuuden tai tekstuurin toimiessa mittausinformaation kantajana. Opintojakso antaa teoreettisia valmiuksia ja laskennallisia menetelmiä sekä

käytännön valmiuksia kuvaan perustuvan mittauksen suorittamiseen.

Sisältö

Opintojakson luennoilla käsitellään 2d-signaalianalyysiä, konenäön erityismenetelmiä sekä kuvaan sisältyvän mittausinformaation tulkintaa. Laboratorioharjoituksissa tutustutaan mittaustarkoituksiin käytettävien kuvien tuottamiseen. Tietokoneharjoituksissa harjoitellaan numeeristen menetelmien soveltamista kuvien käsittelyssä ja analyysissä sekä erilaisissa mittaustehtävissä. Harjoitustyössä viedään läpi käytännössä kuvaan perustuva mittaustehtävä.

Tutkintovaatimukset

Hyväksytysti suoritetut harjoitukset ja tentti.

Kirjallisuus

Sonka, Hlavac, Boyle, Image Processing, Analysis, and Machine Vision, (second edition). PWS Publishing, 1998. Lim, Two-Dimensional signal and Image Processing. Prentice Hall, 1990.

Suositeltavat esitiedot

7503040 Kuvaan perustuva mittaus 1. Opintojaksoa täydentävät myös muut TTKK:n kuvankäsittelyyn liittyvät opintojaksot.

Huomautuksia

Soveltuu jatko-opintoihin. Suositeltava vuosikurssi IV.

Linkkejä

Opintojakson toteutus lukuvuonna 01-02