Opinto-opas 2002-2003

2803010 ELEKTRONIMIKROSKOPIA, ELECTRON MICROSCOPY, 3 ov

Tietoa luennoitsijoista
Professori TOIVO LEPISTÖ

Luentoja ja harjoituksia
Luentoja yhteensä 28h. Harjoituksia yhteensä 14h.

Viikottainen opetus/periodi

S1

S2

K1

K2

Kesä

Luennot (h):

2+

2

-

-

-

Harjoitukset (h):

1+

1

-

-

-

Tavoitteet
Hallita pyyhkäisyelektronimikroskopian (SEM) ja mikroanalysoinnin (EDS ja WDS) perusteet ja luoda valmius niiden soveltamiseen käytännön työskentelyssä.

Sisältö
Pyyhkäisyelektronimikroskoopin rakenne, toiminta, kuvan- ja kontrastinmuodostus, erityistoiminnot sekä esimerkkejä sovelluskohteista. Näytteenvalmistus. EDS- ja WDS-mikroanalysoinnin perusteet, korjauslaskenta, ATK-ohjelmistot, kuvankäsittely ja sovellusesimerkkejä.

Tutkintovaatimukset
Hyväksytysti suoritettu kirjallinen tentti luentojen ja harjoitusten sisällöstä, hyväksytysti suoritetut seminaari- ja laboratorioharjoitukset.

Kirjallisuus
Luentomonisteet. Pentti Kettunen: Elektronimikroskopia I, Laitteisto ja kontrastinmuodostus, Otakustantamo 1983. Pentti Kettunen ja Toivo Lepistö: Elektronimikroskopia II, Otakustantamo 1983. (soveltuvin osin). J.I. Goldstein ym.: Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis, Plenum Press, New York 1981. L. Reimer: Scanning Electron Microscopy, Springer-Verlag, SLT 1985.

Huomautuksia
Opintojakso pyritään luennoimaan FUT-ohjelmassa, jolloin opetuskielenä on englanti (2803011).