7503040
KUVAAN PERUSTUVA MITTAUS 1,
MEASUREMENT BASED ON DIGITAL IMAGE 1, 3 ov
Tietoa luennoitsijoista
Laboratorioinsinööri HEIMO IHALAINEN, DI KALLE MARJANEN, DI KAJ SÖDERHOLM
Luentoja ja harjoituksia
Luentoja 14 h. Laboratorio- ja tietokoneharjoituksia 28 h.
Luentoajat ja -paikat
TIISTAI 15 - 17, Sh108,
Viikottainen opetus/periodi |
|
|
|
|
|
Luennot (h): |
- |
2 |
- |
- |
- |
Harjoitukset (h): |
- |
4 |
- |
- |
- |
Tavoitteet
Kuvia - erityisesti digitaalikuvia - käytetään enenevästi mittaustarkoituksiin. Mittausinformaatio sisältyy kuvan muotoihin, ääriviivoihin, väreihin, valoisuuteen tai tekstuuriin. Kuva toimii samalla dokumenttina datasta, ja sitä voidaan katsella sekä analysoida joko reaaliaikaisesti tai myöhemmin. Opintojakso antaa teoreettisen perustan kuvaan perustuvien mittausmenetelmien ymmärtämiseen, digitaaliseen kuvankäsittelyyn ja kuvainformaation statistiseen analyysiin. Kurssilla saa myös otteen laskennallisista menetelmistä ja kuvaan perustuvan mittauksen suorittamisesta.
Sisältö
Opintojakson luennoilla käsitellään kuvantamismenetelmien ominaisuuksia, 2d-signaalianalyysiä ja konenäköön kehitettyjä menetelmiä. Tietokoneharjoituksissa harjoitellaan numeeristen menetelmien soveltamista kuvien käsittelyssä ja analyysissä sekä erilaisissa mittaustehtävissä. Opintojaksoa täydentää 7503050 Kuvaan perustuva mittaus 2.
Tutkintovaatimukset
Hyväksytysti suoritettu tentti.
Kirjallisuus
Gonzales, Rafael C., Woods, Richard E.: Digital Image Processing, Addison-Wesley 1993. Kurssilla käsitellään aiheita muistakin kirjoista sekä www-materiaalia.
Huomautuksia
Soveltuu jatko-opintoihin. Suositeltava vuosikurssi IV.