Opinto-opas 2003-2004

2803011 ELECTRON MICROSCOPY, ELECTRON MICROSCOPY, 3 ov

Tietoa luennoitsijoista
Professor TOIVO LEPISTÖ

Viikottainen opetus/periodi	S1	S2	K1	K2	Kesä
Luennot (h):	2+	2	-	-	-
Harjoitukset (h):	1+	1	-	-	-

Sisältö
Scanning electron microscopy, operation, image and contrast formation, specimen preparation. Microanalyzing with EDS and WDS, correction calculations, computer programs, image analysis, practical applications.

Tutkintovaatimukset
Examination on lectures and literature. Passed exercises.

Kirjallisuus
J.I.Goldstein ym.: Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis, Kluwer Academic Publisher, New York 2003. L. Reimer: Scanning Electron Microscopy, Springer-Verlag, SLT 1998.