|
FYS-2300 ELEKTRONISPEKTROSKOPIA, 5 op
|
Opintojakson vastuuhenkilö
Mika Valden
Luentoajat ja -paikat
Per V: Maanantai 14 - 16, SJ212A
Per V: Torstai 10 - 12, SJ212A
Toteutuskerrat
Koulutusohjelmat: | Materiaalitekniikka, Teknis-luonnontieteellinen |
Periodi 1 | Periodi 2 | Periodi 3 | Periodi 4 | Periodi 5 | Kesä | |
Luento | - | - | - | - | 4 h/vko | - |
Laboratoriotyö | - | - | - | - | 2 h/vko | - |
Seminaari | - | - | - | - | 2 h/vko | - |
Tentti |
Tavoitteet
Annetaan perustiedot elektronispektroskooppisista menetelmistä (XPS, AES, ARUPS ja NEXAFS) pinnan alkuainejakaumien, nanorakenteiden ja yhdistemuotojen tutkimuksessa sekä pintayhdisteiden molekulaarisen rakenteen tutkimuksessa.
Suoritusvaatimukset
Hyväksytysti suoritetut laboratoriotyö, seminaariesitelmä ja tentti.
Opintojakson arviointikriteerit
Oppimateriaali
Tyyppi | Nimi | Tekijä | ISBN | URL | Painos,saatavuus... | Tenttimateriaali | Kieli |
Kirja | Surface Analysis by Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy | Briggs, D. and Grant ,J.T | 1 901019 04 7 | IM Publications and SurfaceSpectra Limited, 1. painos, 2003 | Kyllä | Englanti | |
Luentokalvot | Valden Mika | Kyllä | Suomi |
Esitiedot
Tunnus | Nimi | OP | P/S |
FYS-2100 | FYS-2100 Pintatieteen perusteet | 6 | Suositeltava |
Esitietoketju (Vaatii kirjautumisen TTY Intranetiin)
Huomautuksia
Viimeksi muokattu | 16.04.2007 |
Muokkaaja | Mika Valden |