Opintojaksot   |Tutkinnot| |Opintokokonaisuudet| |Kaikki| |Jatko| |KV|

Opinto-opas 2007-2008

Opintokokonaisuuden tyyppi

Aineopinnot

Yhteyshenkilöt

Jouko Halttunen

Mittaukset ja niistä saatava informaatio ovat keskeisessä asemassa kaikessa teknisen toiminnan päätöksenteossa; mittaamalla saadaan tutkimustyössä ja prosessien tai koneiden hallinnassa tarvittava perustieto. Mittaus- ja informaatiotekniikassa käsitellään mittauksiin liittyviä ydinkysymyksiä, eli asioita, joita suunnittelussa, mittauksessa ja mittausinformaation käsittelyssä on otettava huomioon, jotta saatu tieto on spesifistä, luotettavaa ja tarkkaa. Tämä aineopintokokonaisuus tarjoaa hyvän luonnontieteellisen pohjan omaavalle opiskelijalle keinon kehittää mittausteknillistä osaamistaan.

Tavoitteet

- Antaa perustan mittaus- ja informaatiotekniikan alan hallintaan ja luo edellytykset seurata alan kehitystä.
- Antaa valmiudet ymmärtää tieteellistä ajattelua ja perusvalmiudet tieteellisiin työskentelytapoihin, tiedon hankintaan ja hallintaan.
- Antaa edellytykset jatkaa ylempään korkeakoulututkintoon sekä valmiuden jatkuvaan oppimiseen.
- Antaa edellytykset hankitun tiedon soveltamiseen työelämässä.
- Antaa edellytykset ymmärtää mittaus- ja informaatiotekniikan merkitys sekä teknillisen että yhteiskunnallisen kehityksen kannalta.
- Antaa riittävät kieli- ja viestintätaidot.

Tutkinnot, joihin opintokokonaisuus voidaan sisällyttää

Jatkomahdollisuudet

Sisältö

Pakolliset opintojaksot

Opintojakso	Opintopisteet	Vaihtoehtoisuus
MIT-2010 Metrologia	7 op	1
MIT-3010 Mittausdatan analyysi 1	7 op	1
MIT-4010 Anturifysiikka	7 op	1
Yhteensä	21 op

1. Valittava vähintään kaksi opintojaksoa.

Täydentävät opintojaksot

Listasta täydennetään opintokokonaisuuden laajuuteen

Opintojakso	Opintopisteet
MIT-1010 Mittaustekniikka	5 op
MIT-1110 Mittaus- ja informaatiotekniikan sovellukset	4 op
MIT-1210 Mittaustekniikan matemaattiset menetelmät	5 op
MIT-1310 Mittaus- ja informaatiotekniikan työkurssi	3-8 op
MIT-1330 Mittaus- ja informaatiotekniikan projektityö	3-7 op
MIT-1710 Mittaus- ja informaatiotekniikan erityiskysymyksiä	2-15 op
MIT-3030 Mittausdatan analyysi 2	5 op
MIT-3050 Mittausten informaatiosisältö ja datan luotettavuus	5 op
MIT-3070 Mittausinformaatiojärjestelmän suunnittelu	7 op
MIT-3110 Dynaamisten järjestelmien monimuuttuja-analyysi	5 op
MIT-3130 Laajojen dynaamisten järjestelmien analyysi	5 op
MIT-3210 Kuvaan perustuva mittaus 1	5 op
MIT-3230 Kuvaan perustuva mittaus 2	5 op
MIT-4030 Mikroanturit	5 op
MIT-4050 Piianturien suunnittelu	7-8 op
MIT-4070 Bioanturit	5 op
MIT-5010 Teollisuusprosessien mittausjärjestelmät	5 op
MIT-5511 Akustiikan mittaukset	4-7 op
Yhteensä	85 op

Viimeksi muokattu	12.03.2007
Muokkaaja	Heikki Jokinen