Opinto-opas 2008-2009
Jatko

Perus Pori KV Jatko Avoin

|Tutkinnot|     |Opintokokonaisuudet|     |Opintojaksot|    

Opinto-opas 2008-2009

ELE-4120 Elektroniikan luotettavuus, 5 op
Electronics reliability

Opintojakson vastuuhenkilö

Pekka Heino

Toteutuskerrat

  Luentoajat ja -paikat Kohderyhmä, jolle suositellaan
Toteutus 1


Per 4, 5 :
Keskiviikko 14 - 16, SM221

 
3.-n. vuosikurssi
DI-Opiskelijat
Jatko-opiskelijat
Materiaalitekniikan koulutusohjelma
Sähkötekniikan koulutusohjelma
Tieto- ja sähkötekniikan tiedekunta  


Suoritusvaatimukset

Hyväksytysti suoritettu tentti ja harjoitukset
Osasuoritusten pitää liittyä samaan toteutuskertaan

Opetukseen ja oppimiseen liittyvät periaatteet ja lähtökohdat

-

Tavoitteet

Tavoitteena on hahmottaa keskeisimmät luotettavuuden määrittämiseen ja parantamiseen tähtäävät menetelmät ja niiden merkitys elektroniikassa. Kurssi antaa tietoa erilaisista luotettavuuden testimenetelmistä ja niiden tulosten hyödyntämisestä.

Sisältö

Sisältöalue Ydinaines Täydentävä tietämys Erityistietämys
1. Luotettavuuden konsepti ja määritelmä sekä keskeisimmät mittarit  Teoreettinen luotettavuus  Luotettavuuden määrittäminen numeerisesti ja luotettavuusohjelmistot 
2. Tyypillisimmät elektroniikan vikaantumismekanismit ja syyt niihin  Vikaantumismekanismien erottelu pakkauksen eri hierarkiatasoilla sekä erilaisissa sovelluksissa  PoF (Physics of Failure), ja vika-analyysimenetelmät 
3. Luotettavuustestimenetelmät ja niiden antama informaatio laitteen tai osakokoonpanon luotettavuudesta  Olosuhdetestaus ja sen rooli elinikätestauksessa ja laitteen käyttöiän määrittämisessä (kiihdytetyt ja monimuuttujatestit)  Järjestelmätason luotettavuus ja sen analysointi 
4. Menetelmät luotettavuuden kehittämiseen   HALT ja HASS tuotekehityksessä  TRM (total reliability management) 


Oppimateriaali

Tyyppi Nimi Tekijä ISBN URL Painos,saatavuus... Tenttimateriaali Kieli
Kirja   Design and Analysis of Accelerated Tests for Mission Critical Reliability   Michael J. LuValle   978-1584884712          Englanti  
Kirja   Statistical Methods for Reliability Data (Wiley Series in Probability and Statistics)   William Q. Meeker and Luis A. Escobar   978-0471143284          Englanti  
Kirja   Reliability, Yield and Stress burn-in   W. Kuo et al.   0-7923-8107-6          Englanti  
Luentokalvot   ELE-4120 luentokalvot   S. Kuusiluoma et al.            Englanti  
Muu kirjallisuus   Opiskelijoiden tuottama harjoitustyömateriaali   N.N.            Suomi  


Esitietovaatimukset

Opintojakso P/S
ELE-2150 Integroitujen piirien perusteet Pakollinen  
ELE-4100 Elektroniikan tuotantotekniikka Suositeltava  

Esitietoketju (Vaatii kirjautumisen POPiin)

Vastaavuudet

Opintojakso Vastaa opintojaksoa  Selite 
ELE-4120 Elektroniikan luotettavuus, 5 op ELE-4150 Mikroelektroniikan pakkaustekniikka, 5 op  

Tarkempia tietoja toteutuskerroittain

  Kuvaus Opetusmuodot Toteutustapa
Toteutus 1 Vuosi 2008-2009   Luennot
Tieto- ja viestintätekniikan käyttö
Harjoitustyöt
Muu lähiopetus
Oppimispäiväkirja, portfolio ja muu kirjallinen tuotos
   
Lähiopetus: 0 %
Etäopetus: 6 %
Itseopiskelu: 0 %  


Viimeksi muokattu13.01.2009
MuokkaajaAki Korpela