Opinto-opas 2008-2009 Jatko
Perus	Pori	KV	Jatko	Avoin
\|Tutkinnot\| \|Opintokokonaisuudet\| \|Opintojaksot\|

Opinto-opas 2008-2009

MIT-3230 Kuvaan perustuva mittaus 2, 5 op
Measurement Based on Digital Image 2

Opintojakson vastuuhenkilö

Heimo Ihalainen, Kalle Marjanen

Toteutuskerrat

Ei toteutuskertoja

Suoritusvaatimukset

Hyväksytysti suoritetut harjoitukset, seminaari ja tentti.

Opetukseen ja oppimiseen liittyvät periaatteet ja lähtökohdat

Tavoitteet

Kuvaan perustuva mittaaminen yleistyy eri sovellusaloilla. Tietokoneiden kehittyvä kapasiteetti tekee mahdolliseksi yhä vaativampien algoritmien ja sovellusten kehittämisen. Opintojakso antaa teoreettisia valmiuksia statistiseen kuvankäsittelyyn ja kuva-analyysiin sekä kuvasta mittauksen tarkkuuskysymysten selvittämiseen. Opintojaksolla käsitellään myös kuvantamismenetelmien fysikaalisia perusteita. Opintojaksolla opiskellaan laskennallisia menetelmiä ja kehitetään käytännön valmiuksia kuvaan perustuvan mittauksen suorittamiseen.

Sisältö

Sisältöalue Ydinaines Täydentävä tietämys Erityistietämys

1. Kuvaan perustuva mittaus; kuvaan perustuvan mittauksen virhelähteet, kuva-anturin kohina, järjestelmän ominaisuudet. Mittausvirheiden analyysi ja niiden vaikutusten korjaus. Toimivan kuvaan perustuvan mittauksen rakentaminen. Viistovalotekniikka, 3D-stereomittaus.

2. Kuva-analyysi; 2D-signaalianalyysi, muunnosmenetelmät, kuvien reksiteröinnin ja yhdistämisen perusteet, tekstuurianalyysi. FFT-menetelmät.

3. Kuvantaminen; kameratekniikkaa ja muiden kuvantamismenetelmien tekniikkaa, kohina-analyysi

4. Tietokonepohjainen kuvankäsittely; 2D-digitaalisuodatus, menetelmien soveltaminen ja kehittäminen. MATLAB; käyttö ja ohjelmointi Kuvan pakkaus.

5. Optiikka; linssioptiikan ja fotometrian perusteet, kamerakalibrointi

Opintojakson arvostelu

Opintojakson suoritus edellyttää hyväksytyt harjoitukset, seminaarin ja tentin.

Arvosteluasteikko:

Opintojaksolla käytetään numeerista arviointiasteikkoa (1-5)

Oppimateriaali

Tyyppi Nimi Tekijä ISBN URL Painos,saatavuus... Tenttimateriaali Kieli

Luentokalvot Measurement Based on Digital Image 2 Kalle Marjanen http://www.mit.tut.fi/MIT-3230/ Englanti

Muu verkkomateriaali Kuvaan perustuva mittaus http://www.mit.tut.fi/MIT-3230/ Suomi

Esitietovaatimukset

Opintojakso	P/S
MIT-3210 Kuvaan perustuva mittaus 1	Suositeltava
SGN-3010 Digitaalinen kuvankäsittely I	Suositeltava
SGN-3016 Digital Image Processing I	Suositeltava

Esitietoketju (Vaatii kirjautumisen POPiin)

Vastaavuudet

Opintojakso	Vastaa opintojaksoa	Selite
MIT-3230 Kuvaan perustuva mittaus 2, 5 op	7503050 Kuvaan perustuva mittaus 2, 3 ov
MIT-3230 Kuvaan perustuva mittaus 2, 5 op	MIT-3236 Measurement Based on Digital Image 2, 5 op	Vastaavuus 1 = 1

Viimeksi muokattu 11.08.2008

Muokkaaja Heikki Jokinen

Sisältöalue	Ydinaines	Täydentävä tietämys	Erityistietämys
1.	Kuvaan perustuva mittaus; kuvaan perustuvan mittauksen virhelähteet, kuva-anturin kohina, järjestelmän ominaisuudet.	Mittausvirheiden analyysi ja niiden vaikutusten korjaus. Toimivan kuvaan perustuvan mittauksen rakentaminen.	Viistovalotekniikka, 3D-stereomittaus.
2.	Kuva-analyysi; 2D-signaalianalyysi, muunnosmenetelmät, kuvien reksiteröinnin ja yhdistämisen perusteet, tekstuurianalyysi.	FFT-menetelmät.
3.	Kuvantaminen; kameratekniikkaa ja muiden kuvantamismenetelmien tekniikkaa, kohina-analyysi
4.	Tietokonepohjainen kuvankäsittely; 2D-digitaalisuodatus, menetelmien soveltaminen ja kehittäminen.	MATLAB; käyttö ja ohjelmointi Kuvan pakkaus.
5.	Optiikka; linssioptiikan ja fotometrian perusteet, kamerakalibrointi

Tyyppi	Nimi	Tekijä	ISBN	URL	Painos,saatavuus...	Tenttimateriaali	Kieli
Luentokalvot	Measurement Based on Digital Image 2	Kalle Marjanen			http://www.mit.tut.fi/MIT-3230/		Englanti
Muu verkkomateriaali	Kuvaan perustuva mittaus				http://www.mit.tut.fi/MIT-3230/		Suomi

Opinto-opas 2008-2009 Jatko

Opinto-opas 2008-2009

MIT-3230 Kuvaan perustuva mittaus 2, 5 op Measurement Based on Digital Image 2