|
ELE-4120 Elektroniikan luotettavuus, 5 op
|
Erja Sipilä
Luentoajat ja -paikat | Kohderyhmä, jolle suositellaan | |
Toteutus 1 |
|
3.-n. vuosikurssi
DI-Opiskelijat Jatko-opiskelijat Materiaalitekniikan koulutusohjelma Sähkötekniikan koulutusohjelma Tieto- ja sähkötekniikan tiedekunta |
Hyväksytysti suoritettu tentti ja harjoitukset
Osasuoritusten pitää liittyä samaan toteutuskertaan
-
Tavoitteena on hahmottaa keskeisimmät luotettavuuden määrittämiseen ja parantamiseen tähtäävät menetelmät ja niiden merkitys elektroniikassa. Kurssi antaa tietoa erilaisista luotettavuuden testimenetelmistä ja niiden tulosten hyödyntämisestä.
Sisältö | Ydinaines | Täydentävä tietämys | Erityistietämys |
1. | Luotettavuuden konsepti ja määritelmä sekä keskeisimmät mittarit | Teoreettinen luotettavuus | Luotettavuuden määrittäminen numeerisesti ja luotettavuusohjelmistot |
2. | Tyypillisimmät elektroniikan vikaantumismekanismit ja syyt niihin | Vikaantumismekanismien erottelu pakkauksen eri hierarkiatasoilla sekä erilaisissa sovelluksissa | PoF (Physics of Failure), ja vika-analyysimenetelmät |
3. | Luotettavuustestimenetelmät ja niiden antama informaatio laitteen tai osakokoonpanon luotettavuudesta | Olosuhdetestaus ja sen rooli elinikätestauksessa ja laitteen käyttöiän määrittämisessä (kiihdytetyt ja monimuuttujatestit) | Järjestelmätason luotettavuus ja sen analysointi |
4. | Menetelmät luotettavuuden kehittämiseen | HALT ja HASS tuotekehityksessä | TRM (total reliability management) |
Tyyppi | Nimi | Tekijä | ISBN | URL | Painos,saatavuus... | Tenttimateriaali | Kieli |
Kirja | Design and Analysis of Accelerated Tests for Mission Critical Reliability | Michael J. LuValle | 978-1584884712 | Englanti | |||
Kirja | Statistical Methods for Reliability Data (Wiley Series in Probability and Statistics) | William Q. Meeker and Luis A. Escobar | 978-0471143284 | Englanti | |||
Kirja | Reliability, Yield and Stress burn-in | W. Kuo et al. | 0-7923-8107-6 | Englanti | |||
Luentokalvot | ELE-4120 luentokalvot | S. Kuusiluoma et al. | Englanti | ||||
Muu kirjallisuus | Opiskelijoiden tuottama harjoitustyömateriaali | N.N. | Suomi |
Opintojakso | P/S | Selite |
ELE-2150 Integroitujen piirien perusteet | Pakollinen | |
ELE-4100 Elektroniikan tuotantotekniikka | Suositeltava |
Tietoa esitietovaatimuksista
Tai vastaavat tiedot
Opintojakso ei vastaan mitään toista opintojaksoa
Kuvaus | Opetusmuodot | Toteutustapa | |
Toteutus 1 | Vuosi 2009-2010 | Luennot Harjoitustyöt Muu lähiopetus Oppimispäiväkirja, portfolio ja muu kirjallinen tuotos |
Lähiopetus: 0 % Etäopetus: 6 % Itseopiskelu: 0 % |