Opinto-opas 2009-2010 |
|||||
| Perus | Pori | KV | Jatko | Avoin | |
|
|
|
|||||||||||||||||
FYS-2300 Elektronispektroskopia, 5 op
|
Mika Valden
| Luentoajat ja -paikat | Kohderyhmä, jolle suositellaan | |
| Toteutus 1 |
|
3.-n. vuosikurssi
Biotekniikan koulutusohjelma DI-Opiskelijat Jatko-opiskelijat Luonnontieteiden ja ympäristötekniikan tiedekunta Materiaalitekniikan koulutusohjelma Teknis-luonnontieteellinen koulutusohjelma |
Hyväksytysti suoritetut laboratoriotyö, seminaariesitelmä ja tentti.
Osasuoritusten pitää liittyä samaan toteutuskertaan
-
Annetaan perustiedot elektronispektroskooppisista menetelmistä (XPS, AES, ARUPS ja NEXAFS) pinnan alkuainejakaumien, nanorakenteiden ja yhdistemuotojen tutkimuksessa sekä pintayhdisteiden molekulaarisen rakenteen tutkimuksessa.
| Sisältö | Ydinaines | Täydentävä tietämys | Erityistietämys |
| 1. | 1. Johdanto 2. Tyhjiötekniikka 3. Energia-analysaattorit 4. XPS 5. AES 6. UPS 7. XAS |
| Tyyppi | Nimi | Tekijä | ISBN | URL | Painos,saatavuus... | Tenttimateriaali | Kieli |
| Kirja | Surface Analysis by Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy | Briggs, D. and Grant ,J.T | 1 901019 04 7 | IM Publications and SurfaceSpectra Limited, 1. painos, 2003 | Englanti | ||
| Luentokalvot | Valden Mika | Suomi |
| Opintojakso | P/S | Selite |
| FYS-2100 Pintatieteen perusteet | Suositeltava |
| Opintojakso | Vastaa opintojaksoa | Selite |
|
|
|
Vastaavuus 1 = 1 |
| Kuvaus | Opetusmuodot | Toteutustapa | |
| Toteutus 1 |