Opinto-opas 2009-2010
Perus

Perus Pori KV Jatko Avoin

|Tutkinnot|     |Opintokokonaisuudet|     |Opintojaksot|    

Opinto-opas 2009-2010

MIT-3210 Kuvaan perustuva mittaus 1, 5 op
Measurement Based on Digital Image 1

Vastuuhenkilö

Heimo Ihalainen

Toteutuskerrat

  Luentoajat ja -paikat Kohderyhmä, jolle suositellaan
Toteutus 1

Periodit 2 - 3

 
Automaatiotekniikan koulutusohjelma
Biotekniikan koulutusohjelma
Jatko-opiskelijat
Konetekniikan koulutusohjelma
Kuitu- ja tekstiilitekniikan koulutusohjelma
Materiaalitekniikan koulutusohjelma
Rakennustekniikan koulutusohjelma
Signaalinkäsittelyn ja tietoliikennetekniikan koulutusohjelma
Sähkötekniikan koulutusohjelma
Teknis-luonnontieteellinen koulutusohjelma
Tietojohtamisen koulutusohjelma
Tietotekniikan koulutusohjelma
Tuotantotalouden koulutusohjelma
Ympäristö- ja energiatekniikan koulutusohjelma  


Suoritusvaatimukset

Hyväksytysti suoritetut tietokoneharjoitukset ja tentti.

Opetukseen ja oppimiseen liittyvät periaatteet ja lähtökohdat

-

Osaamistavoitteet

Opintojakso antaa perustan kuvaan perustuvien mittausmenetelmien ymmärtämiseen, digitaaliseen kuvankäsittelyyn ja kuvainformaation tilastolliseen analyysiin. Opintojaksolla saa myös otteen laskennallisista menetelmistä ja kuvaan perustuvan mittauksen suorittamisesta.

Sisältö

Sisältö Ydinaines Täydentävä tietämys Erityistietämys
1. Digitaalikuva; kuva datamuotona, kuvantaminen  Digitaalikameroiden tekniikka ja muita kuvantamisteknikoita  Digitaalikuvauksen optiikka 
2. Tietokonepohjainen kuvankäsittely; 2D-digitaalisuotimet, histogrammi, yksittäiskuva ja elokuva  Lineaaristen 2D-suodinten teoria Järjestyssuotimet   
3. Kuvaan perustuva mittaus; kenttä ja aihealue, kohteen ilmaisu, segmentointi, laskennalliset parametrit  Geometristen mittausten tekeminen Värimittausten tekeminen  2D-kuva tilastollisena data-materiaalina laskennallisille menetelmille 
4. Kuva-analyysi; 2D-spektrin perusominaisuudet, tekstuurianalyysin perusteet  Kuva-analyysin kenttä   


Opintojakson arvostelu

Opintojakso suoritetaan normaalisti tenttimällä ja silloin siitä saa normaalisti numeerisen arvosanan. Opintojaksosta järjestetään myös vuosittainen tietokonetentti, jonka ajankohta sovitaan opintojaksolla. Opintojakson voi myös suorittaa harjoitustyöllä arvosanalla hyväksytty.

Arvosteluasteikko:

Opintojaksolla käytetään numeerista arviointiasteikkoa (1-5)

Oppimateriaali

Tyyppi Nimi Tekijä ISBN URL Painos,saatavuus... Tenttimateriaali Kieli
Kirja   Digital Image Processing   Gonzales, Rafael C. & Woods, Richard E.   0201180758          Englanti  
Luentokalvot   Kuvaan perustuva mittaus 1   Kaj Söderholm & Heimo Ihalainen       http://www.mit.tut.fi/MIT-3210/      Suomi  
Muu verkkomateriaali   Kuvaan perustuva mittaus         http://www.mit.tut.fi/MIT-3210/      Suomi  


Esitietoketju (Vaatii kirjautumisen POPiin)

Vastaavuudet

Opintojakso Vastaa opintojaksoa  Selite 
MIT-3210 Kuvaan perustuva mittaus 1, 5 op ASE-7410 Kuvaan perustuvat mittaukset, 5 op  
MIT-3210 Kuvaan perustuva mittaus 1, 5 op 7503040 Kuvaan perustuva mittaus 1, 3 ov  

Tarkempia tietoja toteutuskerroittain

  Kuvaus Opetusmuodot Toteutustapa
Toteutus 1       Lähiopetus: 0 %
Etäopetus: 0 %
Itseopiskelu: 0 %  


Viimeksi muokattu13.03.2009
MuokkaajaHeikki Jokinen