Opinto-opas 2010-2011
Jatko

Perus Pori KV Jatko Avoin

|Tutkinnot|     |Opintokokonaisuudet|     |Opintojaksot|    

Opinto-opas 2010-2011

ASE-7410 Kuvaan perustuvat mittaukset, 5 op
Measurements Based on Digital Image

Vastuuhenkilö

Heimo Ihalainen, Kalle Marjanen, Risto Ritala

Suoritusvaatimukset

Hyväksytysti suoritetut harjoitukset ja harjoitustyö. Numeerisen arvosanan saamiseksi lisäksi tentti.

Osaamistavoitteet

Kurssin suoritettuaan opiskelija osaa kuvaan perustuvan mittauksen perusteet; järjestelmäkomponentit, laskennallisten menetelmien ytimen sekä järjestelmän suunnittelun perusteet. Osaa (3/5) 1.tunnistaa kameraan perustuvan mittausjärjestelmän peruskäsitteet, komponentit ja rakenteet 2.kuvankäsittelyn ja kuva-analyysin perusteet 3.soveltaa numeerisin analyysin menetelmiä kuville 4. suunnitella yksinkertaisen kuvaan perustuvan mittausjärjestelmän Arvosana (1/5): vähintään kolme oppimistavoitetta täyttyy

Sisältö

Sisältö Ydinaines Täydentävä tietämys Erityistietämys
1. Kameraan perustuvan mittauksen perusteet  Systeemianalyysi, kamera lineaarisena järjestelmänä, järjestelmäkohina  Ympäristötekijöiden vaikutus kuvan laatuun 
2. Kuvankäsittelyn perusteet  2-D lineaarinen ja epälineaarinen suodatus  2-D Fourier muunnos 
3. Kuva-analyysin perusteet, segmentointi, reunan- ja kulman haku, orientaatio ja mittakaava  Tekstuurianalyysin perustietämys  2-D spektrianalyysi 
4. Kuvaan perustuvan mittausjärjestelmän suunnittelu  Resoluutio-, pinta-ala-, valaisu- ja kalibrointivaatimukset  Järjestelmän luotettavuusvaatimukset 

Esitietoketju (Vaatii kirjautumisen POPiin)



Vastaavuudet

Opintojakso Vastaa opintojaksoa  Selite 
ASE-7410 Kuvaan perustuvat mittaukset, 5 op MIT-3210 Kuvaan perustuva mittaus 1, 5 op  

Lisätiedot

Soveltuu jatko-opinnoiksi
Ei luennoida lukuvuonna 2010-2011

Viimeksi muokattu12.01.2011