|
|
|||||||||||||||||
Opinto-opas 2011-2012
ASE-7410 Kuvaan perustuvat mittaukset, 5 op
|
Lisätiedot
Soveltuu jatko-opinnoiksi
Vastuuhenkilö
Heimo Ihalainen, Risto Ritala, Kalle Marjanen
Opetus
| Opetusmuoto | P1 | P2 | P3 | P4 | Kesä | Toteutuskerrat | Luentoajat ja -paikat |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Suoritusvaatimukset
Hyväksytysti suoritetut harjoitukset ja harjoitustyö. Numeerisen arvosanan saamiseksi lisäksi tentti.
Osaamistavoitteet
Kurssin suoritettuaan opiskelija osaa kuvaan perustuvan mittauksen perusteet; järjestelmäkomponentit, laskennallisten menetelmien ytimen sekä järjestelmän suunnittelun perusteet. Osaa (3/5) 1.tunnistaa kameraan perustuvan mittausjärjestelmän peruskäsitteet, komponentit ja rakenteet 2.kuvankäsittelyn ja kuva-analyysin perusteet 3.soveltaa numeerisin analyysin menetelmiä kuville 4. suunnitella yksinkertaisen kuvaan perustuvan mittausjärjestelmän Arvosana (1/5): vähintään kolme oppimistavoitetta täyttyy
Sisältö
| Sisältö | Ydinaines | Täydentävä tietämys | Erityistietämys |
| 1. | Kameraan perustuvan mittauksen perusteet | Systeemianalyysi, kamera lineaarisena järjestelmänä, järjestelmäkohina | Ympäristötekijöiden vaikutus kuvan laatuun |
| 2. | Kuvankäsittelyn perusteet | 2-D lineaarinen ja epälineaarinen suodatus | 2-D Fourier muunnos |
| 3. | Kuva-analyysin perusteet, segmentointi, reunan- ja kulman haku, orientaatio ja mittakaava | Tekstuurianalyysin perustietämys | 2-D spektrianalyysi |
| 4. | Kuvaan perustuvan mittausjärjestelmän suunnittelu | Resoluutio-, pinta-ala-, valaisu- ja kalibrointivaatimukset | Järjestelmän luotettavuusvaatimukset |
Esitietoketju (Vaatii kirjautumisen POPiin)
Vastaavuudet
| Opintojakso | Vastaa opintojaksoa | Selite |
|
|
|
Tarkempia tietoja toteutuskerroittain
| Toteutus | Kuvaus | Opetusmuodot | Toteutustapa |