|
Opinto-opas 2013-2014
ELT-22200 Elektroniikan luotettavuus, 5 op
|
Lisätiedot
Soveltuu jatko-opinnoiksi
Vastuuhenkilö
Johanna Virkki
Opetus
Opetusmuoto | P1 | P2 | P3 | P4 | Kesä | Toteutuskerrat | Luentoajat ja -paikat |
|
|
|
|
|
|
|
|
Suoritusvaatimukset
Hyväksytysti suoritettu seminaariesitys ja aktiivinen osallistuminen kurssin tehtäviin/harjoituksiin.
Kurssilla ei ole erillistä tenttiä, vaan arvosana muodostuu seminaariesityksestä ja tehtävistä/harjoituksista.
Osasuoritusten pitää liittyä samaan toteutuskertaan
Opetukseen ja oppimiseen liittyvät periaatteet ja lähtökohdat
-
Osaamistavoitteet
Opintojakson suoritettuaan opiskelija tunnistaa luotettavuuden merkityksen elektroniikassa. Hän osaa selittää keskeisimmät luotettavuuden määrittämiseen ja parantamiseen tähtäävät menetelmät ja osaa käyttää niitä elektroniikan luotettavuuden arvioinnissa. Opiskelija osaa valita elektroniikkatuotteelle sopivat luotettavuustestimenetelmät ja hän osaa määritellä yleisimmät vikaantumismekanismit sekä syyt vikaantumisiin.
Sisältö
Sisältö | Ydinsisältö | Täydentävä tietämys | Erityistietämys |
1. | Luotettavuuden konsepti ja määritelmä sekä keskeisimmät mittarit | Käytännön luotettavuustyö | |
2. | Tyypillisimmät elektroniikan rasitustyypit ja vikaantumismekanismit | FMEA, FMECA, vika-analyysimenetelmät | |
3. | Luotettavuustestimenetelmät ja niiden antama informaatio luotettavuudesta | Kiihdytetyt testit | |
4. | Laskennallinen luotettavuus | MIL-HDBK-217 |
Ohjeita opiskelijalle osaamisen tasojen saavuttamiseksi
Opintojakson arvosana määräytyy seminaarityön ja muiden kurssin tehtävien/harjoitusten yhteispisteiden perusteella. Sekä seminaarista että muista pakollisista osioista on saatava hyväksytty suoritus (tarpeeksi kerättyjä psteitä) jotta koko opintojaksosta voi saada hyväksytyn arvosanan. Jos ydinaineksen hallinnassa tai muissa pakollisissa tehtävissä on huomattavia puutteita, opiskelija ei voi saada opintojaksosta hyväksyttyä arvosanaa.
Arvosteluasteikko:
Opintojaksolla käytetään numeerista arviointiasteikkoa (1-5)
Osasuoritukset:
Oppimateriaali
Tyyppi | Nimi | Tekijä | ISBN | URL | Painos,saatavuus... | Tenttimateriaali | Kieli |
Kirja | Design and Analysis of Accelerated Tests for Mission Critical Reliability | Michael J. LuValle | 978-1584884712 | Ei | Englanti | ||
Kirja | Reliability in Microtechnology: Interconnect, Devices and Systems | Liu, Salmela, Särkkä, Morris, Tegehall, Andersson | Ei | Englanti | |||
Kirja | Reliability, Yield and Stress burn-in | W. Kuo et al. | 0-7923-8107-6 | Ei | Englanti | ||
Kirja | Statistical Methods for Reliability Data (Wiley Series in Probability and Statistics) | William Q. Meeker and Luis A. Escobar | 978-0471143284 | Ei | Englanti | ||
Kirja | Ei | Englanti | |||||
Luentokalvot | Luentomateriaali | . | Ei | Suomi | |||
Muu kirjallisuus | Opiskelijoiden tuottama materiaali (seminaariesitykset) | N.N. | Ei | Suomi |
Esitietovaatimukset
Opintojakso | P/S | Selite |
ELT-21000 Elektroniikkalaitteen tuotesuunnittelu | Pakollinen | 1 |
1 . Esitieto-opintojakso ELE-2350 Elektroniikkalaitteen tuotesuunnittelu on vaihtoehtoinen jo poistetun opintojakson ELE-2150 Integroitujen piirien perusteet kanssa.
Esitietoketju (Vaatii kirjautumisen POPiin)
Vastaavuudet
Opintojakso | Vastaa opintojaksoa | Selite |
|
|
|
|
|
Tarkempia tietoja toteutuskerroittain
Toteutus | Kuvaus | Opetusmuodot | Toteutustapa |
Luennot Oppimispäiväkirja, portfolio ja muu kirjallinen tuotos |
Lähiopetus: 30 % Etäopetus: 0 % Itseopiskelu: 70 % |