Mittaus A, 5 op

Ydinsisältö

• Mitta-asteikot ja mittayksikköjärjestelmä, metrologian ja mittaustekniikan perusterminologia, mittanormaalit, mittausketju/mittausjärjestelmän rakenne

• Mittausepävarmuus ja mittausten laadussapito (kalibrointi, jäljitettävyys, varmentaminen) sekä näiden merkitys

• Mittausjärjestelmän staattinen ja dynaaminen suorituskyky

• Mittaussignaalin muodostus ja mittausanturit perussuureille (esim. pituus/siirtymä, lämpötila, paine, kiihtyvyys, voima) ja niiden fysikaalisia perusteita

• AD-muunnos, Nyquistin näytteistysteoreema, kvantisointivirhe sekä analogisen ja digitaalisen signaalin ero

• Numeerisen laskentaohjelmiston peruskäyttö mittausdatan käsittelyyn ja visualisointiin 

• Mittausjärjestelmän 1. ja 2. kertaluokan nollattomat siirtofunktiomallit. 1. kertaluokan viiveellinen malli. DC-vahvistus, aikavakio, vaimennussuhde, luonnollinen kulmataajuus. 

• Mittausjärjestelmän transienttivasteen tunnusluvut ja niiden yhteydet mittausjärjestelmän mallin parametreihin. 

• Mittausjärjestelmän taajuusvasteanalyysi

Täydentävä tietämys

• Mittausepävarmuuslaskenta

• Mittausjärjestelmän ja -signaalin aika- ja taajuustason esitysten/mallien välinen yhteys

• Mittausantureiden ominaisuudet ja epäideaalisuudet

• Mittauksen kuormitusvaikutus, sähköisten perusmittalaitteiden epäideaalisuudet ja niiden analysointi

• Signaalien muokkaus

Erityistietämys

• Mittausepävarmuuden ja informaatioteorian välinen yhteys

• Laplace-muunnos, mittausjärjestelmien dynamiikan matemaattinen analyysi