Opinto-opas 2002-2003

2803020 LÄPIVALAISUELEKTRONIMIKROSKOPIA, TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY, 3 ov

Tietoa luennoitsijoista
Professori TOIVO LEPISTÖ

Luentoja ja harjoituksia
Luentoja yhteensä 21h. Harjoituksia yhteensä 14h.

Luentoajat ja -paikat
KESKIVIIKKO 14 - 17, K3441,

Viikottainen opetus/periodi	S1	S2	K1	K2	Kesä
Luennot (h):	-	-	3	-	-
Harjoitukset (h):	-	-	-	2	-

Tavoitteet
Hallita läpivalaisuelektronimikroskopian (TEM) ja siihen liittyvien menetelmien (STEM ja AEM) perusteet ja luoda valmius niiden soveltamiseen käytännön työskentelyssä.

Sisältö
Läpivalaisuelektronimikroskoopin ja siihen liittyvien laitteiden rakenne, toiminta, kontrastinmuodostus, elektronidiffraktio, alkuaineanalyysi (EDS) sekä elektronien energianmenetykseen perustuva karakterisointi (EELS). Esimerkkejä käytännön sovelluskohteista. Näytteenvalmistusmenetelmät. Muut elektronioptiset laitteet.

Tutkintovaatimukset
Hyväksytysti suoritettu kirjallinen tentti luentojen ja harjoitusten sisällöstä, hyväksytysti suoritetut seminaari- ja laboratorioharjoitukset.

Kirjallisuus
P. Kettunen: Elektronimikroskopia I, Laitteisto ja kontrastinmuodostus, Otakustantamo 1983, P. Kettunen ja T.K. Lepistö: Elektronimikroskopia II, Otakustantamo 1983 (soveltuvin osin). D.B. Williams and C.B. Carter: Transmission Electron Microscopy, A textbook for materials science, Plenum Press, New York, 1996 (osat I, II, III ja IV).

Tietoa esitietovaatimuksista
Vaihtoehtoiset

Esitiedot

Numero	Nimi	OV	P/S
2803000	Materiaalitieteen fysikaaliset tutkimusmenetelmät	3	Pakollinen
2803010	Elektronimikroskopia	3	Pakollinen

Huomautuksia
Luennoidaan joka toinen vuosi, luennoidaan lukuvuonna 2002-03. Opintojakso pyritään luennoimaan FUT-ohjelmassa, jolloin opetuskielenä on englanti (2803021).