7503050
KUVAAN PERUSTUVA MITTAUS 2,
MEASUREMENT BASED ON DIGITAL IMAGE 2, 3 ov
Tietoa luennoitsijoista
Laboratorioinsinööri HEIMO IHALAINEN, DI KALLE MARJANEN, DI KAJ SÖDERHOLM
Luentoja ja harjoituksia
Luentoja 14 h. Laboratorio- ja tietokoneharjoituksia 42 h.
Luentoajat ja -paikat
TIISTAI 15 - 17, SH108,
Viikottainen opetus/periodi |
|
|
|
|
|
Luennot (h): |
- |
- |
2 |
- |
- |
Harjoitukset (h): |
- |
- |
4+ |
1 |
- |
Tavoitteet
Kuvaan perustuva mittaaminen yleistyy eri sovellusaloilla. Tietokoneiden kehittyvä kapasiteetti tekee mahdolliseksi yhä vaativampien algoritmien ja sovellusten kehittämisen. Opintojakso antaa teoreettisia valmiuksia statistiseen kuvankäsittelyyn ja kuva-analyysiin sekä kuvasta mittauksen tarkkuuskysymysten selvittämiseen. Kurssilla käsitellään myös kuvantamismenetelmien fysikaalisia perusteita. Kurssilla opiskellaan laskennallisia menetelmiä ja kehitetään käytännön valmiuksia kuvaan perustuvan mittauksen suorittamiseen.
Sisältö
Opintojakson luennoilla käsitellään 2d-signaalianalyysiä, konenäön erityismenetelmiä sekä kuvaan sisältyvän mittausinformaation tulkintaa. Laboratorioharjoituksissa tutustutaan mittaustarkoituksiin käytettävien kuvien tuottamiseen. Tietokoneharjoituksissa harjoitellaan numeeristen menetelmien soveltamista kuvien käsittelyssä ja analyysissä sekä erilaisissa mittaustehtävissä. Harjoitustyössä suoritetaan käytännössä jokin kuvaan perustuvan mittauksen tehtävä.
Tutkintovaatimukset
Hyväksytysti suoritettu harjoitustyö.
Kirjallisuus
Lim, Jae S.: Two-Dimensional Signal and Image Processing. Prentice Hall, 1990. Gonzales, Rafael C., Woods, Richard E.: Digital Image Processing, Addison-Wesley 1993. Kurssilla käsitellään aiheita muistakin kirjoista sekä www-materiaalia.
Tietoa esitietovaatimuksista
Opintojaksoa täydentävät TTKK:n kuvankäsittelyyn ja fotogrammetriaan liittyvät opintojaksot.
Esitiedot
Numero |
Nimi |
|
|
7503040 |
3 |
Suositus |
Huomautuksia
Soveltuu jatko-opintoihin. Suositeltava vuosikurssi IV.