Opintojaksot   |Tutkinnot| |Opintokokonaisuudet| |Kaikki| |Jatko| |KV|  |Haku|

Opinto-opas 2006-2007

Jatko-opintojaksot.

Mittaus- ja informaatiotekniikka

• MIT-1330 Mittaus- ja informaatiotekniikan projektityö, Project Study in Measurement and Information Technology, 3-7 op
• MIT-1336 Project Study in Measurement and Information Technology, 3-7 cr
• MIT-1710 Mittaus- ja informaatiotekniikan erityiskysymyksiä, Advanced Topics in Measurement and Information Technology, 2-15 op
• MIT-3030 Mittausdatan analyysi 2, Analysis of Measurement Data 2, 5 op
• MIT-3070 Mittausinformaatiojärjestelmän suunnittelu, Design of Measurement Information System, 7 op
• MIT-3110 Dynaamisten järjestelmien monimuuttuja-analyysi, Multivariate Analysis of Dynamic Systems, 5 op
• MIT-3130 Laajojen dynaamisten järjestelmien analyysi, Data Analysis of Extensive Dynamic Systems, 5 op
• MIT-3210 Kuvaan perustuva mittaus 1, Measurement Based on Digital Image 1, 5 op
• MIT-3216 Measurement Based on Digital Image 1, 5 cr
• MIT-3230 Kuvaan perustuva mittaus 2, Measurement Based on Digital Image 2, 5 op
• MIT-4030 Mikroanturit, Microsensors, 5 op
• MIT-4036 Microsensors, 5 cr
• MIT-4050 Piianturien suunnittelu, Design of Silicon Sensors, 7-8 op
• MIT-4070 Bioanturit, Biosensors, 5 op
• MIT-4076 Biosensors, 5 cr
• MIT-5510 Akustiikan mittaukset, Measurements in Acoustics, 5 op