|
Mittausinformaatiotekniikka |
Syventävät opinnot
Risto Ritala
Mittausinformaatiotekniikan opintokokonaisuus opettaa mittausdatan analysoinnin järjestelmällisenä toimintaprosessina, joka alkaa kohdejärjestelmän tuntemukseen perustuvasta tavoitteen määrittelystä ja päättyy analyysitulosten tulkinnan tukemiseen. Painopiste on mittausten luotettavuuden ja informaatiosisällön arvioinnissa, mittausdatan esikäsittelyssä ja dynaamisista järjestelmistä kerättyjen data-aineistojen analysointimenetelmissä. Opintokokonaisuus antaa sekä teoreettiset valmiudet että opettaa soveltamaan numeerisia ohjelmistoja data-analyysiin. Koulutus tuottaa ammattilaisia suunnittelu-, tutkimus- ja kehitystehtäviin, joissa laajojen mittausaineistojen hallinta ja analyysi on keskeistä.
- Antaa edellytykset tieteelliseen jatkokoulutukseen.
- Antaa valmiudet toimia työelämässä mittausinformaatiotekniikan asiantuntijana ja kehittäjänä.
- Antaa valmiudet toimia asiantuntijana mittauksia ja niiden käsittelyä ja tulkintaa koskevien ilmiöiden ja ongelmien yhteiskunnallisessa käsittelyssä.
- Antaa riittävät kieli-, viestintä- ja yhteistyötaidot sekä valmiudet toimia monitieteisessä yhteisössä.
- Antaa opiskelijalle mittausinformaatiotekniikan menetelmien ja siihen liittyvien sovellusten hyvä tuntemus.
- Antaa sekä teoreettiset valmiudet että opettaa soveltamaan numeerisia ohjelmistoja data-analyysiin.
Opintokokonaisuuden pakollisena esitietona on suoritettava opintojakso MIT-3010 Mittausdatan analyysi 1.
Opintokokonaisuus | Opintopisteet |
Mittaus- ja informaatiotekniikka | 25 op |
Mittaus- ja informaatiotekniikka TL | 25 op |
Oppivat ja älykkäät järjestelmät | 25 op |
Oppivat järjestelmät ja systeemiteoria | 25 op |
Signaalinkäsittely ja multimedia | 25 op |
Säätötekniikka | 25 op |
Teknillinen matematiikka | 25 op |
Teknillisen laskennan menetelmät | 25 op |
Opintojakso | Opintopisteet | Vaihtoehtoisuus |
MIT-1510 Mittaus- ja informaatiotekniikan D-työseminaari | 1 op | 1 |
MIT-3050 Mittausten informaatiosisältö ja datan luotettavuus | 5 op | |
MIT-3070 Mittausinformaatiojärjestelmän suunnittelu | 7 op | |
Yhteensä | 13 op |
1. Pakollinen niille, jotka tekevät diplomityönsä Mittausinformaatiotekniikan opintokokonaisuuteen.
Opintokokonaisuuteen pitää valita vähintään toinen opintojaksoista MIT-3110 ja MIT-3130.
Opintojakso | Opintopisteet |
MIT-3030 Mittausdatan analyysi 2 | 5 op |
MIT-3110 Dynaamisten järjestelmien monimuuttuja-analyysi | 5 op |
MIT-3130 Laajojen dynaamisten järjestelmien analyysi | 5 op |
Yhteensä | 15 op |
Opintojakso | Opintopisteet |
MIT-3210 Kuvaan perustuva mittaus 1 | 5 op |
MIT-3230 Kuvaan perustuva mittaus 2 | 5 op |
Yhteensä | 10 op |
Täydentävinä opintojaksoina voidaan valita myös toisen painotusvaihtoehdon opintojaksoja. Täydentäviin opintoihin suositellaan lisäksi erityisesti automaatio- ja säätötekniikan, matematiikan ja signaalinkäsittelyn opintojaksoja.
Listasta täydennetään opintokokonaisuuden laajuuteen
Opintojakso | Opintopisteet |
MIT-1310 Mittaus- ja informaatiotekniikan työkurssi | 3-8 op |
MIT-1330 Mittaus- ja informaatiotekniikan projektityö | 3-7 op |
MIT-1710 Mittaus- ja informaatiotekniikan erityiskysymyksiä | 2-15 op |
MIT-5010 Teollisuusprosessien mittausjärjestelmät | 5 op |
MIT-5510 Akustiikan mittaukset | 5 op |
Yhteensä | 18 op |
Viimeksi muokattu | 30.05.2006 |
Muokkaaja | Heikki Jokinen |