|
Mittaus- ja informaatiotekniikka |
Aineopinnot
Risto Ritala, Jukka Lekkala, Jouko Halttunen
- Antaa edellytykset hankitun tiedon soveltamiseen työelämässä
- Antaa edellytykset jatkaa ylempään korkeakoulututkintoon sekä valmiuden jatkuvaan oppimiseen
- Antaa edellytykset ymmärtää mittaus- ja informaatiotekniikan merkitys sekä teknillisen että yhteiskunnallisen kehityksen kannalta
- Antaa perustan mittaus- ja informaatiotekniikan alan hallintaan ja luo edellytykset seurata alan kehitystä
- Antaa riittävät kieli- ja viestintätaidot
- Antaa valmiudet ymmärtää tieteellistä ajattelua ja perusvalmiudet tieteellisiin työskentelytapoihin, tiedon hankintaan ja hallintaan
ELE-1020 Elektroniikan perusteet II ( Suositeltava )
MIT-1010 Mittaustekniikka ( Pakollinen )
MIT-3310 Signaalianalyysin perusteet ( Suositeltava )
SGN-1200 Signaalinkäsittelyn menetelmät ( Suositeltava )
SMG-1100 Piirianalyysi I ( Suositeltava )
Suositeltavina esitietoina olevat opintojaksot voidaan sijoittaa koulutusohjelmakohtaisiin perusopintoihin. Opintojaksoja Piirianalyysi I ja Elektroniikan perusteet II suositellaan syventävissä opinnoissaan Anturitekniikkaan suuntautuville ja opintojaksoja Signaalianalyysin perusteet tai Signaalinkäsittelyn menetelmät Mittausinformaatiotekniikkaan suuntautuville. ( Suositeltava )
Aineopintokokonaisuuteen suositellaan valittavaksi kaikki kolme opintojaksoa. Kokonaisuuden täydentämiseen suositellaan opintojaksoa MIT-1110.
Opintojakso | Opintopisteet | Vaihtoehtoisuus | Vuosikurssi |
MIT-2010 Metrologia | 7 op | 1 | I |
MIT-3010 Mittausdatan analyysi 1 | 7 op | 1 | I |
MIT-4010 Anturifysiikka | 7 op | 1 | I |
Yhteensä | 21 op |
1. Valittava vähintään kaksi opintojaksoa.
Listasta täydennetään opintokokonaisuuden laajuuteen (25)
Opintojakso | Opintopisteet | Vuosikurssi |
MIT-1110 Mittaus- ja informaatiotekniikan sovellukset | 4 op | I |
MIT-1210 Mittaustekniikan matemaattiset menetelmät | 5 op | I |
MIT-1330 Mittaus- ja informaatiotekniikan projektityö | 3-7 op | I |
MIT-3030 Mittausdatan analyysi 2 | 5 op | I |
MIT-3051 Mittausten informaatiosisältö | 5 op | I |
MIT-3070 Mittausinformaatiojärjestelmän suunnittelu | 7 op | I |
MIT-3110 Dynaamisten järjestelmien monimuuttuja-analyysi | 5 op | I |
MIT-3130 Laajojen dynaamisten järjestelmien analyysi | 5 op | I |
MIT-3210 Kuvaan perustuva mittaus 1 | 5 op | I |
MIT-3230 Kuvaan perustuva mittaus 2 | 5 op | I |
MIT-4030 Mikroanturit | 5 op | I |
MIT-4050 Piianturien suunnittelu | 7-8 op | I |
MIT-4070 Bioanturit | 5 op | I |
MIT-5010 Teollisuusprosessien mittausjärjestelmät | 5 op | I |
MIT-5210 Optiset menetelmät bioanalytiikassa | 4 op | I |
MIT-5511 Akustiikan mittaukset | 4-7 op | I |
Yhteensä | 79 op |
Mittaukset ja niistä saatava informaatio ovat keskeisessä asemassa kaikessa teknisen toiminnan päätöksenteossa; mittaamalla saadaan tutkimustyössä ja prosessien tai koneiden hallinnassa tarvittava perustieto. Mittaus- ja informaatiotekniikan aineopinnoissa käsitellään mittauksiin liittyviä ydinkysymyksiä, eli asioita, joita suunnittelussa, mittauksessa ja mittausinformaation käsittelyssä on otettava huomioon, jotta saatu tieto on spesifistä, luotettavaa ja tarkkaa. Laajasti sovellettavana osaamisalueena mittaus- ja informaatiotekniikkaan voidaan erinomaisesti yhdistää lähes kaikkia muita aineopintoja.