|
MIT-3230 Kuvaan perustuva mittaus 2, 5 op
|
Heimo Ihalainen, Kalle Marjanen
Luentoajat ja -paikat | Kohderyhmä, jolle suositellaan | |
Toteutus 1 |
Periodit 4 - 5 |
Hyväksytysti suoritetut harjoitukset, seminaari ja tentti.
-
Kuvaan perustuva mittaaminen yleistyy eri sovellusaloilla. Tietokoneiden kehittyvä kapasiteetti tekee mahdolliseksi yhä vaativampien algoritmien ja sovellusten kehittämisen. Opintojakso antaa teoreettisia valmiuksia statistiseen kuvankäsittelyyn ja kuva-analyysiin sekä kuvasta mittauksen tarkkuuskysymysten selvittämiseen. Opintojaksolla käsitellään myös kuvantamismenetelmien fysikaalisia perusteita. Opintojaksolla opiskellaan laskennallisia menetelmiä ja kehitetään käytännön valmiuksia kuvaan perustuvan mittauksen suorittamiseen.
Sisältö | Ydinaines | Täydentävä tietämys | Erityistietämys |
1. | Kuvaan perustuva mittaus; kuvaan perustuvan mittauksen virhelähteet, kuva-anturin kohina, järjestelmän ominaisuudet. | Mittausvirheiden analyysi ja niiden vaikutusten korjaus. Toimivan kuvaan perustuvan mittauksen rakentaminen. | Viistovalotekniikka, 3D-stereomittaus. |
2. | Kuva-analyysi; 2D-signaalianalyysi, muunnosmenetelmät, kuvien reksiteröinnin ja yhdistämisen perusteet, tekstuurianalyysi. | FFT-menetelmät. | |
3. | Kuvantaminen; kameratekniikkaa ja muiden kuvantamismenetelmien tekniikkaa, kohina-analyysi | ||
4. | Tietokonepohjainen kuvankäsittely; 2D-digitaalisuodatus, menetelmien soveltaminen ja kehittäminen. | MATLAB; käyttö ja ohjelmointi Kuvan pakkaus. | |
5. | Optiikka; linssioptiikan ja fotometrian perusteet, kamerakalibrointi |
Opintojakson suoritus edellyttää hyväksytyt harjoitukset, seminaarin ja tentin.
Opintojaksolla käytetään numeerista arviointiasteikkoa (1-5)
Tyyppi | Nimi | Tekijä | ISBN | URL | Painos,saatavuus... | Tenttimateriaali | Kieli |
Luentokalvot | Measurement Based on Digital Image 2 | Kalle Marjanen | http://www.mit.tut.fi/MIT-3230/ | Englanti | |||
Muu verkkomateriaali | Kuvaan perustuva mittaus | http://www.mit.tut.fi/MIT-3230/ | Suomi |
Opintojakso | P/S | Selite |
MIT-3210 Kuvaan perustuva mittaus 1 | Suositeltava | |
SGN-3010 Digitaalinen kuvankäsittely I | Suositeltava | |
SGN-3016 Digital Image Processing I | Suositeltava |
Opintojakso | Vastaa opintojaksoa | Selite |
|
|
|
|
|
Vastaavuus 1 = 1 |
Kuvaus | Opetusmuodot | Toteutustapa | |
Toteutus 1 | Luennot Seminaarityöt Harjoitukset Harjoitustyöt Muu lähiopetus |
Lähiopetus: 0 % Etäopetus: 0 % Itseopiskelu: 0 % |