Opinto-opas 2009-2010 |
|||||
| Perus | Pori | KV | Jatko | Avoin | |
|
|
|
|||||||||||||||||
Mittausinformaatiotekniikka, 30 op |
Syventävät opinnot
Risto Ritala
- Antaa valmiudet toimia työelämässä mittausinformaatiotekniikan asiantuntijana ja kehittäjänä.
- Antaa valmiudet toimia asiantuntijana mittauksia ja niiden käsittelyä ja tulkintaa koskevien ilmiöiden ja ongelmien yhteiskunnallisessa käsittelyssä.
- Antaa riittävät kieli-, viestintä- ja yhteistyötaidot sekä valmiudet toimia monitieteisessä yhteisössä.
- Antaa opiskelijalle mittausinformaatiotekniikan menetelmien ja siihen liittyvien sovellusten hyvä tuntemus.
- Antaa sekä teoreettiset valmiudet että opettaa soveltamaan numeerisia ohjelmistoja data-analyysiin.
- Antaa edellytykset tieteelliseen jatkokoulutukseen.
| Tutkinto |
| Automaatiotekniikan koulutusohjelma - Diplomi-insinöörin tutkinto |
| Sähkötekniikan koulutusohjelma - Diplomi-insinöörin tutkinto |
| Opintokokonaisuus | Opintopisteet | P/S |
| Mittaus- ja informaatiotekniikka TL | 25 op | Suositeltava |
| Oppivat järjestelmät ja systeemiteoria | 25 op | Suositeltava |
| Teknillisen laskennan menetelmät | 25 op | Suositeltava |
| Säätötekniikka | 25 op | Suositeltava |
| Oppivat ja älykkäät järjestelmät | 25 op | Suositeltava |
| Mittaus- ja informaatiotekniikka | 25 op | Suositeltava |
| Signaalinkäsittely ja multimedia | 25 op | Suositeltava |
| Teknillinen matematiikka | 25 op | Suositeltava |
MIT-3010 Mittausdatan analyysi 1 ( Pakollinen )
On valittava vähintään yksi esitietona oleva aineopintokokonaisuus. ( Pakollinen )
Pakollista opintojaksoa ei voi sisällyttää syventäviin opintoihin, mikäli se sisältyy esitietona olevaan opintokokonaisuuteen.
| Opintojakso | Opintopisteet | Vaihtoehtoisuus |
| ACI-11060 Systeemitekniikan diplomityöseminaari | 1 op | 1 |
| MIT-3051 Mittausten informaatiosisältö | 5 op | |
| MIT-3070 Mittausinformaatiojärjestelmän suunnittelu | 7 op | |
| Yhteensä | 13 op |
1. Pakollinen diplomityönsä Mittausinformaatiotekniikan opintokokonaisuuteen tekeville.
Opintokokonaisuuteen on valittava vähintään kaksi vaihtoehtoista opintojaksoa.
Valittava vähintään 10 pisteen edestä opintojaksoja
| Opintojakso | Opintopisteet |
| MIT-3030 Mittausdatan analyysi 2 | 5 op |
| MIT-3110 Dynaamisten järjestelmien monimuuttuja-analyysi | 5 op |
| MIT-3130 Laajojen dynaamisten järjestelmien analyysi | 5 op |
| MIT-3210 Kuvaan perustuva mittaus 1 | 5 op |
| MIT-3230 Kuvaan perustuva mittaus 2 | 5 op |
| Yhteensä | 25 op |
Täydentävinä opintojaksoina voidaan alla mainittujen opintojaksojen lisäksi valita myös muita systeemitekniikan laitoksen opintojaksoja, sekä matematiikan ja signaalinkäsittelyn opintojaksoja. Opintojaksoa ei voi sisällyttää syventäviin opintoihin, mikäli se sisältyy esitietona olevaan opintokokonaisuuteen.
Listasta täydennetään opintokokonaisuuden laajuuteen (30)
| Opintojakso | Opintopisteet |
| MIT-1210 Mittaustekniikan matemaattiset menetelmät | 5 op |
| MIT-1330 Mittaus- ja informaatiotekniikan projektityö | 3-7 op |
| MIT-1710 Mittaus- ja informaatiotekniikan erityiskysymyksiä | 2-15 op |
| MIT-5010 Teollisuusprosessien mittausjärjestelmät | 5 op |
| MIT-5511 Akustiikan mittaukset | 4-7 op |
| Yhteensä | 19 op |
Mittausinformaatiotekniikan opintokokonaisuus opettaa mittausdatan analysoinnin järjestelmällisenä toimintaprosessina, joka alkaa kohdejärjestelmän tuntemukseen perustuvasta tavoitteen määrittelystä ja päättyy analyysitulosten tulkinnan tukemiseen. Painopiste on mittausten luotettavuuden ja informaatiosisällön arvioinnissa, mittausdatan esikäsittelyssä ja dynaamisista järjestelmistä kerättyjen data-aineistojen analysointimenetelmissä. Opintokokonaisuus antaa sekä teoreettiset valmiudet että opettaa soveltamaan numeerisia ohjelmistoja data-analyysiin. Koulutus tuottaa ammattilaisia suunnittelu-, tutkimus- ja kehitystehtäviin, joissa laajojen mittausaineistojen hallinta ja analyysi on keskeistä.