|
|
Mittausinformaatiotekniikka |
Syventävät opinnot
Risto Ritala
Mittausinformaatiotekniikan opintokokonaisuus opettaa mittausdatan analysoinnin järjestelmällisenä toimintaprosessina, joka alkaa kohdejärjestelmän tuntemukseen perustuvasta tavoitteen määrittelystä ja päättyy analyysitulosten tulkinnan tukemiseen. Painopiste on mittausten luotettavuuden ja informaatiosisällön arvioinnissa, mittausdatan esikäsittelyssä ja dynaamisista järjestelmistä kerättyjen data-aineistojen analysointimenetelmissä. Opintokokonaisuus antaa sekä teoreettiset valmiudet että opettaa soveltamaan numeerisia ohjelmistoja data-analyysiin. Koulutus tuottaa ammattilaisia suunnittelu-, tutkimus- ja kehitystehtäviin, joissa laajojen mittausaineistojen hallinta ja analyysi on keskeistä.
- Antaa opiskelijalle mittausinformaatiotekniikan menetelmien ja siihen liittyvien sovellusten hyvä tuntemus.
- Antaa sekä teoreettiset valmiudet että opettaa soveltamaan numeerisia ohjelmistoja data-analyysiin.
- Antaa edellytykset tieteelliseen jatkokoulutukseen.
- Antaa valmiudet toimia työelämässä mittausinformaatiotekniikan asiantuntijana ja kehittäjänä.
- Antaa valmiudet toimia asiantuntijana mittauksia ja niiden käsittelyä ja tulkintaa koskevien ilmiöiden ja ongelmien yhteiskunnallisessa käsittelyssä.
- Antaa riittävät kieli-, viestintä- ja yhteistyötaidot sekä valmiudet toimia monitieteisessä yhteisössä.
Mikäli kurssi Mittausdatan analyysi 1 ei sisälly esitietona olevaan aineopintokokonaisuuteen, se on pakollinen Mittausinformaatiotekniikan opintokokonaisuudessa.
| Opintokokonaisuus | Opintopisteet |
| Mittaus- ja informaatiotekniikka | 25 op |
| Mittaus- ja informaatiotekniikka TL | 25 op |
| Oppivat ja älykkäät järjestelmät | 25 op |
| Oppivat järjestelmät ja systeemiteoria | 25 op |
| Signaalinkäsittely ja multimedia | 25 op |
| Säätötekniikka | 25 op |
| Teknillinen matematiikka | 25 op |
| Teknillisen laskennan menetelmät | 25 op |
| Opintojakso | Opintopisteet | Vaihtoehtoisuus |
| MIT-1210 Mittaustekniikan matemaattiset menetelmät | 5 op | 1 |
| MIT-1510 Mittaus- ja informaatiotekniikan D-työseminaari | 1 op | |
| MIT-3010 Mittausdatan analyysi 1 | 7 op | 2 |
| MIT-3030 Mittausdatan analyysi 2 | 5 op | |
| MIT-3050 Mittausten informaatiosisältö ja datan luotettavuus | 5 op | |
| MIT-3070 Mittausinformaatiojärjestelmän suunnittelu | 7 op | |
| Yhteensä | 30 op |
1. Kurssi on opintokokonaisuudessa pakollinen, mikäli se ei sisälly koulutusohjelmakohtaisiin perusopintoihin.
2. Kurssi on opintokokonaisuudessa pakollinen, mikäli se ei sisälly esitietona olevaan aineopintokokonaisuuteen.
| Opintojakso | Opintopisteet | Vaihtoehtoisuus |
| MIT-3110 Dynaamisten järjestelmien monimuuttuja-analyysi | 5 op | 1 |
| MIT-3130 Laajojen dynaamisten järjestelmien analyysi | 5 op | 1 |
| MIT-3210 Kuvaan perustuva mittaus 1 | 5 op | 1 |
| Yhteensä | 15 op |
1. On valittava vähintään yksi opintojakso.
Syventäviin opintoihin suositellaan lisäksi erityisesti automaatio- ja säätötekniikan, matematiikan ja signaalinkäsittelyn kursseja.
Listasta täydennetään opintokokonaisuuden laajuuteen
| Opintojakso | Opintopisteet |
| MIT-1310 Mittaus- ja informaatiotekniikan työkurssi | 3-8 op |
| MIT-1330 Mittaus- ja informaatiotekniikan projektityö | 3-7 op |
| MIT-1710 Mittaus- ja informaatiotekniikan erityiskysymyksiä | 2-15 op |
| MIT-3230 Kuvaan perustuva mittaus 2 | 5 op |
| MIT-5010 Teollisuusprosessien mittausjärjestelmät | 5 op |
| MIT-5510 Akustiikan mittaukset | 5 op |
| Yhteensä | 23 op |
| Viimeksi muokattu | 02.05.2005 |
| Muokkaaja | Heikki Jokinen |