Opintojaksot   |Tutkinnot| |Opintokokonaisuudet| |Kaikki| |Jatko| |KV|

Opinto-opas 2007-2008

Perus-, jatko- ja kv-opintojaksot.

Mittaus- ja informaatiotekniikka

• MIT-1010 Mittaustekniikka, Measurement Technology, 5 op
• MIT-1016 Measurement Technology, 5 cr
• MIT-1110 Mittaus- ja informaatiotekniikan sovellukset, Applications in Measurement and Information Technology, 4 op
• MIT-1210 Mittaustekniikan matemaattiset menetelmät, Mathematical Methods for Measurement Technology, 5 op
• MIT-1216 Mathematical Methods for Measurement Technology, 5 cr
• MIT-1310 Mittaus- ja informaatiotekniikan työkurssi, Laboratory Course in Measurement and Information Technology, 3-8 op
• MIT-1330 Mittaus- ja informaatiotekniikan projektityö, Project Study in Measurement and Information Technology, 3-7 op
• MIT-1336 Project Study in Measurement and Information Technology, 3-7 cr
• MIT-1350 Anturitekniikan työkurssi, Laboratory Course in Sensor Technology, 3 op
• MIT-1510 Mittaus- ja informaatiotekniikan D-työseminaari, Master's Thesis Seminar in Measurement and Information Technology, 1 op
• MIT-1710 Mittaus- ja informaatiotekniikan erityiskysymyksiä, Advanced Topics in Measurement and Information Technology, 2-15 op
• MIT-2010 Metrologia, Metrology, 7 op
• MIT-2016 Metrology, 7 cr
• MIT-3010 Mittausdatan analyysi 1, Analysis of Measurement Data 1, 7 op
• MIT-3016 Analysis of Measurement Data 1, 7 cr
• MIT-3030 Mittausdatan analyysi 2, Analysis of Measurement Data 2, 5 op
• MIT-3050 Mittausten informaatiosisältö ja datan luotettavuus, Information Content in Measurements and Data Reliability, 5 op
• MIT-3070 Mittausinformaatiojärjestelmän suunnittelu, Design of Measurement Information System, 7 op
• MIT-3110 Dynaamisten järjestelmien monimuuttuja-analyysi, Multivariate Analysis of Dynamic Systems, 5 op
• MIT-3130 Laajojen dynaamisten järjestelmien analyysi, Data Analysis of Extensive Dynamic Systems, 5 op
• MIT-3210 Kuvaan perustuva mittaus 1, Measurement Based on Digital Image 1, 5 op
• MIT-3216 Measurement Based on Digital Image 1, 5 cr
• MIT-3230 Kuvaan perustuva mittaus 2, Measurement Based on Digital Image 2, 5 op
• MIT-4010 Anturifysiikka, Sensor Physics, 7 op
• MIT-4016 Sensor Physics, 7 cr
• MIT-4030 Mikroanturit, Microsensors, 5 op
• MIT-4036 Microsensors, 5 cr
• MIT-4050 Piianturien suunnittelu, Design of Silicon Sensors, 7-8 op
• MIT-4070 Bioanturit, Biosensors, 5 op
• MIT-4076 Biosensors, 5 cr
• MIT-5010 Teollisuusprosessien mittausjärjestelmät, Measurement Systems for Industrial Processes, 5 op
• MIT-5210 Optiset menetelmät bioanalytiikassa, Optical Methods in Bioanalytics, 4 op
• MIT-5216 Optical Methods in Bioanalytics, 4 cr
• MIT-5511 Akustiikan mittaukset, Measurements in Acoustics, 4-7 op