|
Opinto-opas 2010-2011
Mittaustekniikka, 30 op |
Opintokokonaisuuden tyyppi
Syventävät opinnot
Yhteyshenkilö
Risto Ritala, Jukka Lekkala, Jouko Halttunen
Osaamistavoitteet
- | Opiskelija osaa soveltaa tieteellistä tietoa ja tieteellisiä menetelmiä työelämässä. |
- | Opiskelija kykenee jatkamaan opintojaan tieteellisessä jatkokoulutuksessa. |
- | Opiskelija kykenee toimimaan työelämässä mittaustekniikan asiantuntijana ja kehittäjänä. |
- | Opiskelija osaa toimia asiantuntijana mittaustekniikkaa koskevien ilmiöiden ja ongelmien yhteiskunnallisessa käsittelyssä. |
- | Opiskelija hallitsee riittävästi kieli-, viestintä- ja yhteistyötaitoja sekä kykenee toimimaan monitieteisessä yhteisössä. |
- | Opiskelija hallitsee mittaustekniikan menetelmiä ja niihin liittyviä sovelluksia. |
Esitietovaatimukset
Opintokokonaisuus | Opintopisteet | P/S |
25 op | Suositeltava | |
25 op | Suositeltava | |
25 op | Suositeltava | |
25 op | Suositeltava | |
25 op | Suositeltava | |
25 op | Suositeltava | |
25 op | Suositeltava | |
25 op | Suositeltava | |
25 op | Suositeltava | |
25 op | Suositeltava | |
25 op | Suositeltava |
Sisältö
Pakolliset opintojaksot
Pakollista opintojaksoa ei voi sisällyttää syventäviin opintoihin, mikäli se sisältyy esitietona olevaan opintokokonaisuuteen.
Opintojakso | Opintopisteet | Vaihtoehtoisuus |
ASE-7010 Systeemitekniikan diplomityöseminaari | 1 op | 1 |
ASE-7816 Biosensors | 5 op | 3 |
MIT-1210 Mittaustekniikan matemaattiset menetelmät | 5 op | 3 |
MIT-2010 Metrologia | 7 op | 2 |
MIT-3010 Mittausdatan analyysi 1 | 7 op | 2 |
MIT-3030 Mittausdatan analyysi 2 | 5 op | 3 |
MIT-3051 Mittausten informaatiosisältö | 5 op | 3 |
MIT-3070 Mittausinformaatiojärjestelmän suunnittelu | 7 op | 3 |
MIT-3110 Dynaamisten järjestelmien monimuuttuja-analyysi | 5 op | 3 |
MIT-3210 Kuvaan perustuva mittaus 1 | 5 op | 3 |
MIT-3230 Kuvaan perustuva mittaus 2 | 5 op | 3 |
MIT-4010 Anturifysiikka | 7 op | 2 |
MIT-4031 Mikroanturit | 6 op | 3 |
MIT-4051 Piianturien suunnittelu | 8-9 op | 3 |
MIT-5511 Akustiikan mittaukset | 4-7 op | 3 |
Yhteensä | 82 op |
1. Pakollinen diplomityönsä Mittaustekniikan opintokokonaisuuteen tekeville.
2. Valittava vähintään yksi opintojakso, mikäli yhtäkään niistä ei sisälly esitietona olevaan aineopintokokonaisuuteen.
3. Valittava vähintään 15 op.
Täydentävät opintojaksot
Täydentävien opintojaksojen listalla mainittujen opintojaksojen lisäksi myös muita TTY:n opintojaksoja voidaan sisällyttää opintokokonaisuuteen opiskelijan suuntautuneisuuden mukaisesti.
Opintojakso | Opintopisteet | Vuosikurssi |
ASE-7110 Systeemitekniikan projektityö | 2-8 op | IV |
ASE-8010 Systeemitekniikan erityiskysymyksiä | 1-10 op | V |
MIT-5010 Teollisuusprosessien mittausjärjestelmät | 5 op | IV |
MIT-5210 Optiset menetelmät bioanalytiikassa | 4 op | IV |
Lisätiedot
Opintokokonaisuus soveltuu lukuvuonna 2009-2010 tai aiemmin opintonsa aloittaneille. Mittaustekniikan opintokokonaisuus tarjoaa mahdollisuuden suunnata opinnot opiskelijan oman erikoisosaamisen mukaisesti. Pakolliset opintojaksot vahvistavat mittausteknistä osaamista ja muilla opinnoilla syvennetään tietoja erikoisalan mittaustekniikasta. Opintokokonaisuuden vastuuhenkilöt antavat mielellään lisätietoja.